Applicable Electronics(美國)

AEI

美國AEIApplicableElectronicsInc.www.applicableelectronics.comAEI(ApplicableElectronicsInc.)公司由AlanShipley成立于1984年。AEI公司與ScienceWares公司合作，設計開發由電腦控制的、快速的、非損傷的掃描微電極測量系統，用以檢測傳導介質溶液中的離子流。AEI公司主要負責設計和制造硬件系統，包 括計算機控制運動定位系統、各種信號放大器、視頻縮放系統及各種機械裝置和配件。一、非損傷的掃描微電極測量系統:SIET/SPETSIET（掃描離子選擇性電極技術）可以在皮摩爾量級測量離子濃度變化。SPET(掃描式極譜電極技術)可以測量溶于水的氧分子的濃度變化。電極在三維步進電機控制下按照事先設定好的取樣規則從一點到另一點地運行，可進行一維，二維，三維或者按照用戶自設的復雜路徑測量。不同種類的極化電極，如Clarkwhalen型、陰極型氧電極，碳纖維NO電極，還有很多其他種類的極譜電極都得到了廣泛的應用。SVETSVET(掃描振蕩電極技術)能夠以每點約50毫秒的速度，在納伏（nV）量級測量電壓的梯度。正弦波發生器驅動壓電晶體傳感器以實現二維的振蕩。電極振蕩頻率可達200Hz到1KHz，不會對電壓梯度造成擾動。配有專門為SVET設計的PSD-2放大器。SLEISPSD-2放大器和前置放大器同樣適用于SLEIS（掃描局部電化學阻抗譜技術）在1KHz以下范圍（比較經典的是30-100Hz范圍）的測量。實際上，一種方法是將微電極固定不動，用PSD-2的振動器驅動樣品，直接或通過電勢恒定器。另一種模式是一個軸向使用SVET,另一個使用SLEIS,在電勢恒定器的控制下同時對樣品進行掃描。這種測量方式可以給使用者提供很高的敏感性，但是同時在空間分辨率上受電極所限，一般直徑5-50微米。DVITDVIT（視頻差成像技術）是一種定位金屬表面腐蝕的圖像辨別技術，可對一系列圖像的微小差別進行計算和分析，從而鑒別出腐蝕開始的位置。有時需要在溶液中加入化學指示劑染料作為輔助。并可以和SVE