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韓國Micro Pioneer XRF 2000 X射線鍍層測(cè)厚儀/膜厚

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Micro Pioneer X射線鍍層測(cè)厚儀/膜厚儀

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描述:X 螢光射線膜厚分析儀是利用 XRF 原理來分析測(cè)量金屬厚度及物質(zhì)成分,可用於材料的涂層 / 鍍層厚度、材料組成和貴金屬含量檢測(cè)。 XRF-2000 系列分為以下三種: 1. H-Type :密閉式樣品... 立即詢價(jià)

廣東省

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X射線測(cè)厚儀

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描述:檢測(cè)電子電鍍鍍層厚度 立即詢價(jià)

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XRF-2000鍍層測(cè)厚儀

XRF-2000鍍層測(cè)厚儀

描述:韓國XRF2000鍍層測(cè)厚儀 檢測(cè)電子電鍍,化學(xué)鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀... 儀器功能 立即詢價(jià)

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