Structure Probe(美國)

SPI

美國StructureProbe,Inc., www.2spi.comStructureProbe,Inc成立于1970年5月，創始人CharlesA.Garber博士，同時他也是公司的董事長兼首席執行官。時至今日公司的目標仍然是創立電子顯微鏡和表面分析領域高質量獨立的測試和分析實驗室。從僅僅擁有一臺掃描電子顯微鏡和3個員工起步，Garber博士領導公司成為擁有4個實驗基地，員工人數超過30人和價 值超過數萬美元的電子光學設備公司。截至到1985年，StructureProbe,Inc已經變成美國東海岸首屈一指的實驗室，同時作為解決電子顯微鏡領域的相關問題的公司，該公司在工業，政府機構甚至學術界都擁有廣泛的客戶。 1985年以后的時期，市場地位發生了根本變化，例如研發實驗室的發展，從新澤西，康奈提格，紐約一直到美國南部，同時美國的基礎技術商業也從那些大量從事技術研究的國外公司學到了一些東西。另外，由于便宜的長途通訊和傳真的增長，還有便宜的24小時快遞服務公司，例如UPS，DHL和FedEx的發展，客戶對本地實驗室的需求和依賴變得越來越小。 因此，在1997年，StructureProbeInc公司將其運作的所有的分析和咨詢服務部門統一到一個地方，總部位于賓西法尼亞的WestChester。這次統一調整是很明智的，因為公司并沒有因為調整帶來的遠距離而失去客戶。大多數的樣本連夜就可以由快遞公司送到目的地，和我們過去擁有多個實驗基地沒什么區別。 我們了解我們的技術裝備和設施，當一種設備由于多年的使用顯得有些舊的時候，我們就會對其進行升級，升級后的設備幾乎可以和新設備相媲美。我們的JEOLModelJSM-840掃描電子顯微鏡技術可以提供很高的分辨率，即使非傳導材料在低加速電壓的情況下我們也能得到10X到100,000X的圖像。JEOL分析掃描透射電子顯微鏡（STEM）和透射電子顯微鏡（TEM）可以在現代Noran儀器上提供高質量的EDS數據，并且可以在10nm的精微尺度上完成選區電子衍射。同時，在室內，我們還有一些杰出的設備，例如光學顯微鏡、超薄切片