詢價
- 企業類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產地：江蘇蘇州
- 測量元素范圍：11Na (鈉)~92U(鈾)
- X射線管：高功率W 靶、Ag 靶、Rh 靶射線管
- 多導毛細管光學器件：φ25μm
- X射線檢測：SDD 探測器
- 樣品觀察：高分辨率CCD 變焦攝像頭
芯片針腳鍍層厚度檢測儀
芯片針腳鍍層厚度檢測儀是由天瑞儀器集30多年X熒光膜厚測量技術，研發的 一 款X射線熒光鍍層測厚及成分分析儀。儀器采用多導毛細管X射線光學系統，對于芯片針腳、微米級尺寸電子零件、晶圓微區等部件的鍍層厚度和成分分析，能進行高效、準確的測量。
芯片針腳鍍層厚度檢測儀多導毛細聚焦鍍層檢測技術
1、結合鍍層行業微小樣品的檢測需求，研發適用于鍍層檢測的chao近光路系統，減少能量過程損耗。 搭載多導毛細管聚焦管，ji大的提升了儀器的檢測性能，聚焦qiang度提升1000~10000倍，geng gao 的檢測靈敏度和分析jing du 以及gao 計數率bao zheng 測試結果的準確性和wen ding 性。
2、全景+微區雙相機設計，呈現全高清廣角視野，讓樣品觀察geng quan mian ；微米級別分辨率，較好的man zu chao微產品的測試，讓測試geng guang fan geng 便捷。
3、優質的多導毛細管技術，信號qiang度比金屬準直系統高出幾個數量級。
4、多規格可選的多導毛細管，較好的man zu 用戶不同測試需求。
5、gao jing 度XYZ 軸移動測試平臺，結合雙激光點位定位系統，可實現在樣品測試過程中的quan zi動化感受， 一鍵點擊，測試geng省心。
芯片針腳鍍層厚度檢測儀產品應用領域
· 測量chao微小部件和結構，如：印制線路板、連接器或引線框架等；
· 分析chao薄鍍層，如：厚度薄至2nm 的Au 鍍層和≤30nm 的Pd 鍍層；
· 測量電子和半導體行業中的功能性鍍層；
· 分析復雜的多鍍層系統；
·quan zi動測量，如：用于質量kong zhi ling yu ；
· 符合ENIG/ENEPIG要求，符合DIN ISO 3497,ASTM B568,IPC4552和IPC4556 標準。
