產品名稱： HLTC-128半導體分立器件高低溫巡測系統
半導體分立器件高低溫巡測系統（以下簡稱巡測系統）主要用于半導體分立器件在高溫150℃、低溫-55℃環境中的電性能檢測。
目前，許多的廠家對器件的質量越來越重視，購進了一些高低溫設備，但是，在進行測試時，卻是將被測試器件從高低溫箱中拿出來，然后再進行測試，這個過程持續的時間雖然不長，可被測器件的溫度已然有了變化，溫度環境的變化導致測試數據的偏移，這不是我們所希望的。巡測系統可以解決上述的問題，器件是在設定的溫度環境中進行測試的。
巡測系統有自動和手動兩種控制方式。如果用戶需要和圖示儀、電橋等進行連接，通常采用手動控制方式，因為DUT的合格與否，需要操作人員觀察圖示儀，然后加以判斷，不采用自動方式。如果用戶希望購買BC3193分立器件測試系統，則可以采用自動方式進行操作，并且測試的結果可以自動紀錄，方便，推薦采用該方式進行操作。
巡測系統采用負載插座可更換的技術，以適應各種被測試器件的封裝。除了適應各種封裝外，巡測系統還可以對三端及以下封裝的各種器件進行測試，如：三管、二管、可控硅、場效應管等分立器件。
巡測系統由三部分組成：系統控制盒、多路分配器和DUT插件板。
系統控制盒內置MCU，由它發出控制信號，控制多路分配器，將測試信號逐個切換到被測器件，以便對器件進行測試。
DUT插件盒包含了多路分配器、其他一些控制，以及一個可以DUT插件板，使用時用戶可以將被測試器件成批插件板，然后放入高低溫箱中，連接好電纜，待溫度環境合適時，便可以由系統控制器進行控制逐個將被測試器件測試完。
插件板上的插座有多種樣式，可以滿足用戶的各種測試需求。
