| 類型 | 薄膜測厚儀 | 品牌 | 韓國Micro Pioneer |
| 型號 | XRF-2000 | 測量范圍 | 0.001（mm） |
| 顯示方式 | LCD | 電源電壓 | 220V（V） |
| 外形尺寸 | 咨詢（mm） |
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韓國Micro Pioneer XRF-2000系列熒光金屬鍍層測厚儀能提供金屬鍍層厚度的測量,同時可對電鍍液進行分析,不單性能,而且價錢.數秒鐘,便能非破壞性地得到準確的測量結果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動XYZ樣品臺,鐳射自動對焦系統,十字線自動調整./開放式的樣品臺,可測量較大的產品.是線路板,五金電鍍,飾,端子等行業的.可測量各類金屬層、合金層厚度.可測元素范圍：鈦(Ti)–鈾(U)可測量厚度范圍：原子序22-25，0.1-0.8μm26-40，0.05-35μm43-52，0.1-100μm72-82，0.05-5μmX-射線管：油冷,微細對焦高壓：0-50KV(程控) 準直器：固定種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm自動種類大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm電腦系統：IBM相容,17”顯示器 綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層,合金鍍層.鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡單的核對方式,無需購買標準藥液.定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.光譜對比功能:可將樣品的光譜和標準件的光譜進行對比,可確定樣品與標準件的差別,從而控制來料的純度.統計功能:能夠將測量結果進行系統分析統計,方便的控制品質.
