| 類型 | 鍍層測厚儀 | 品牌 | 中科院 |
| 型號 | 測量范圍 | 0-0.003（mm） | |
| 顯示方式 | 數顯 | 電源電壓 | 220（V） |
| 外形尺寸 | 280*240*100（mm） |
說明：型金屬鍍層測厚儀是對導磁性基體上金屬鍍層厚度進行非破壞性厚度測量的儀器。它既可測平面導磁性基體上的金屬鍍層的厚度，也可測各類異型面導磁性基體上的金屬鍍層的厚度。該儀器體積小、操作方便、性好，適應于各種使用環境。
功能特點：微點小探頭點測范圍小于1mm，了凹凸曲面、細薄件測量難題；并能在，完成對鍍層連續的測量掃描，測量已經X熒光同一等級；還由于采用頻，使得鋼鐵基體的成分差異造成的位偏差大大縮小。
適用行業： 機械和汽車轉軸硬鉻鍍層測量，電子行業金、銀貴金屬鍍層測量，細、小、薄物件和印刷線路板鍍層測量，普通金屬件鍍鋅，鎳，鈦等單一鍍層測量。 主要技術指標： 測量范圍： 0－30µ 小曲率： 無限制 小測量面積： φ1mm 小基本厚度： 0.5µm 顯示單位： 0.1µm 電源： 180～240VAC，50HZ。 儀器尺寸： 280×240×100 mm
