| 產(chǎn)品型號 | 高溫反偏 | 產(chǎn)品規(guī)格 | HTRB/HTGB |
| 用于各種封裝的的二、三管、橋堆、MOSFET和可控硅等分立器件進行高溫反偏高溫柵偏試驗（HTRB/HTGB）、高 溫漏電流測試（HTIR）和老化篩選, 根據(jù)客戶對設(shè)備的要求，價格也有所區(qū)別 |
杭州漢瑞電子有限公司成立于1999年，從事半導(dǎo)體元器件老化測試座、老化測試板、老化測試設(shè)備的開發(fā)和生產(chǎn)。
公司投入大量資金和人力先后開發(fā)了100多個品種的高溫老化測試座，一改過去老化測試座清一色的局面，不為廣大客戶降低了成本，而且大大縮短了采購周期。
2002年老化測試板系列質(zhì)量升級，使用壽命延長50%以上，高溫老化板整體品質(zhì)國內(nèi)同行，處于國際。
2003年，公司通過ISO9001-2000，同年產(chǎn)品開始進入國際市場。
在半導(dǎo)體制造商中，公司已經(jīng)擁有不少的客戶，并與他們一直友好合作。
公司擁有經(jīng)驗豐富的人才和的生產(chǎn)設(shè)備，可為您提供優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。
