A1型 磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片
簡(jiǎn) 介：
A型靈敏度試片先由日本無損檢測(cè)學(xué)會(huì)提出，以后為多個(gè)國家使用，主要用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對(duì)幾何形狀復(fù)雜，不同材質(zhì)的工作，可以正確地選擇磁化規(guī)范，并可檢查探傷設(shè)備，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷操作過程中，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向，并對(duì)顯示缺陷的磁場(chǎng)強(qiáng)度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者必備的調(diào)試工具。
