OceanOptics光纖光譜儀>>其它>>SpecEl橢偏儀SpecEl-2000-VIS橢偏儀通過測量基底反射的偏振光，進而測量薄膜厚度及材料不同波長處的折射率。SpecEl通過PC控制來實現(xiàn)折射率，吸光率及膜厚的測量。  集成的測量系統(tǒng)SpecEl由一個集成的光源，一個光譜儀及兩個成70°的偏光器構成，并配有一個32位操作系統(tǒng)的PC.該橢偏儀可測量0.1nm-5um厚的單膜，并且折射率測量可達0.005%。SpecEl可通過電話問價。 SpecEl軟件及Recipe配置文件通過SpecEI軟件，你可以配置及存貯實驗設計方法實現(xiàn)一鍵分析，所有的配置會被存入recipe文件中。創(chuàng)建recipe后，你可以選擇不同的recipe來執(zhí)行你的實驗。 SpecEI軟件截圖顯示的Psi及Delta值可以用來計算厚度，折射率及吸光率。配置說明波長范圍:380-780 nm (標準)或450-900 nm (可選)光學分辨率:4.0 nm FWHM測量:厚度0.1 nm ;折射率0.005%入射角:70°膜厚:單透明膜1-5000 nm光點尺寸:2 mmx 4 mm (標準)或200 µm x 400 µm (可選)采樣時間:3-15s (小)動態(tài)記錄:3 seconds機械公差(height): /- 1.5 mm,角度 /- 1.0°膜層數(shù):至多32層參考:不用以上是SpecEl-2000-VIS橢偏儀通過測量基底反射的偏振光-美國海洋光學的詳細信息，如果您對SpecEl-2000-VIS橢偏儀通過測量基底反射的偏振光-美國海洋光學的價格、廠家、型號、圖片有什么疑問，請聯(lián)系我們獲取SpecEl-2000-VIS橢偏儀通過測量基底反射的偏振光-美國海洋光學的新信息。