反射式膜厚測量儀類型 薄膜測厚儀品牌 OTSUKA型號 FE-3000測量范圍 1nm-250μm（mm）?外形尺寸 481（H）×770（D）×714（W）（主體部分）（mm）?產品特點?紫外到近紅外光領域的反射光譜，適用于多層膜量測、光學常數分析的光干涉式膜厚儀。以光為量測媒介，非接觸式、不破壞樣品的高再現性。190nm~1600nm的大范圍波長解析。1nm~250μm薄膜到厚膜的全般對應。可對應顯微鏡下的微小量測范圍。?測量項目反射率分析多層膜解析光學常數解析（n:屈折率，k:衰減系數）?應用范圍平面顯示器　液晶顯示器、薄膜晶體管、OLED半導體、化合物半導體　硅半導體、半導體雷射、強誘電、介電常數材料數據儲存　DVD、錄像機讀取頭薄膜、磁性材料光學材料　濾光板、抗反射膜平面顯示器　液晶顯示器、薄膜晶體管、OLED薄膜　抗反射膜其它　建筑用材料?規格????????????????????? ?標準型????????????????????????? 厚膜對應型膜厚量測范圍?1 nm ~ 40 μm???????????? 0.8 ~ 250 μm?波長量測范圍?190 ~ 1600 nm???????????? 750 ~ 850 nm ?感光組件????? 光電二極管數組 512ch???? 矩陣型CCD影像傳感器 512ch?光源規格????? D2/I2（紫外-可視光）、D2（紫外光）、I2（可視光）I2（可視光）電源規格????? AC100V±10V 750VA（自動平臺驅動部分）尺寸????????? 481（H）×770（D）×714（W）mm（主體部分）重量????????? 約96kg（主體部分）?測量實例玻璃上的二氧化鈦膜厚、膜質分析以上是反射式膜厚測量儀的詳細信息，如果您對反射式膜厚測量儀的價格、廠家、型號、圖片有什么疑問，請聯系我們獲取反射式膜厚測量儀的新信息。