產品特性：紫外到近紅外光范圍的反射光譜，適用用于多層膜測量及光學常數分析的光干涉式膜厚測量儀。??非接觸式、不破壞樣品，高，高再現性。??190nm~1600nm的范圍波長分析。??1nm~250μm薄膜厚度測量。??可對應顯微鏡下的微小測量范圍。?測量項目： 反射率分析 多層膜膜厚解析 光學常數解析（n:折射率，k:衰減系數） ?應用范圍：■?平面顯示器液晶顯示器、導電薄膜、OLED■半導體、化合物半導體矽半導體、激光半導體、強導電、介電常數材料■數據儲存材料DVD、錄影機讀取頭薄膜、磁性材料■光學材料濾光片、抗反射膜■薄膜抗反射膜■其它建筑用材料??以上是膜厚測量儀的詳細信息，如果您對膜厚測量儀的價格、廠家、型號、圖片有什么疑問，請聯系我們獲取膜厚測量儀的新信息。
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