- 品牌/商標：日本東京精密
- 企業類型：貿易商
- 新舊程度：全新
- 原產地：日本東京
| 機器測量范圍 | |||
| 機型 | C1710SD3-12 | S1500SD3-12 | |
| 輪廓儀 | 粗糙度儀 | ||
| Z軸（縱方向） | 50mm | ±500μｍ | |
| X軸（橫方向） | 100mm | 100mm | |
| Z軸指示 | ±(1.8+|2H|/100)μｍ H：測量高度 | - | |
| 測定分辨率 | 0.1μm/50mm | 1000μm/0.01μm – 6.4μm/0.0001μm | |
| X軸指示 | ±(1+0.01L)μm L為測量長度(mm) | - | |
| 測定分辨率 | 0.016μｍ | 100mm/0.04μｍ 或32,000點 | |
| 直線 | 1μｍ/100mm | (0.05 +1L/1000)μm L=測量長度(mm) | |
| 記錄 | 縱倍率 | 0.01--10,000,000倍（可任意選擇或自動選擇） | 50--500,000倍（可任意選擇或自動選擇） |
| 橫倍率 | 0.01--10,000,000倍（可任意選擇或自動選擇） | 0.1--20,000倍（可任意選擇或自動選擇） | |
| 速度 | 立柱上下（電動） | 3--10mm/s | 3--10mm/s |
| 驅動速度（X軸） | 0.03--60mm/s | 0.03--60mm/s | |
| 測量速度（X軸） | 0.03--20mm/s | 0.03--20mm/s | |
| 傳感器 | Z軸（縱方向） | 光柵尺 | 差動變壓 |
| X軸（橫方向） | 光柵尺 | 光柵尺 | |
| 小測量距離 | 0.1μｍ | ？ | |
| 測量點數 | 100,000點（多10形狀） | 32,000點 | |
| 測針半徑 | 25μｍR | 2μｍR | |
| 測針材質 | 超硬合金 | 金剛石 | |
| 測量力 | 30mN以下 | 0.75mN | |
| 測量方向 | 左、右 | 向右 | |
| 測量形式 | 上、下 | - | |
