- 產品品牌：
- 菲希爾Fischer
- 測量范圍：
- 0.01
X射線發生系統為X射線聚焦光學系統（聚焦導管）與X射線源相結合，并且可以照射出實際照射直徑為0.1mmφ以下高強度的X射
線束。為此，可以對以往X射線熒光鍍層厚度測量儀由于照射強度不足而無法得到理想的導線架、插接頭、柔性線路板等微
小部件及薄膜進行測量。同時搭載高計數率、高分辨率的半導體檢測器，在測量鍍層厚度的同時，也能對RoHS、ELV、中國版
RoHS等法規所管制的有害物質進行分析測量。
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