- 產品品牌：
- 菲希爾Fischer
- 產品型號：
- X-RAY XDVM
- 測量范圍：
- 0.03
FISCHERSCOPE X-RAY XDVM測厚儀，是針對高要求用戶設計的，能夠測量極精密的樣品，如：微形部件或線路板上極微細的表面結構，它的新穎X－射線光學鏡片，創新的X-射線光學原理，使這部儀器能產生非常小，但高輻射強度的測量點，所以，測量數十微米的面積的結構也變成可能。主要應用于線路板測試、極細的鉛框一片片的掃描（指定面積），如：硬盤鍍層、細微的線。有極高，可編程的XYZ測量臺及大移動范圍，測量室為長方形內槽設計，容許放入大面積的物件進行測量。
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