- 產品品牌:
- 菲希爾Fischer
- 產品型號:
- X-RAY XDVM
- 測量范圍:
- 0.03
FISCHERSCOPE X-RAY XDVM測厚儀,是針對高要求用戶設計的,能夠測量極精密的樣品,如:微形部件或線路板上極微細的表面結構,它的新穎X-射線光學鏡片,創新的X-射線光學原理,使這部儀器能產生非常小,但高輻射強度的測量點,所以,測量數十微米的面積的結構也變成可能。主要應用于線路板測試、極細的鉛框一片片的掃描(指定面積),如:硬盤鍍層、細微的線。有極高,可編程的XYZ測量臺及大移動范圍,測量室為長方形內槽設計,容許放入大面積的物件進行測量。
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