- 產品品牌：
- 能兆
- 產品型號：
- NZ-AF210
- 測量范圍：
- 0~1250
Z-AF210數字式覆層測厚儀又名涂層測厚儀,是磁性便攜式覆層測厚儀，它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室，也可用于工程現場。本儀器能廣泛地應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域，是材料保護必備的儀器。
NZ-AF210數字式覆層測厚儀主要特點：
采用了磁性測厚方法，既可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度 ;
具有兩種測量方式：連續測量方式（ CONTINUE ）和單次測量方式（ SINGLE ） ;
具有兩種工作方式：直接方式（ DIRECT ）和成組方式（ GROUP ）；
設有五個統計量：平均值（ MEAN ）、值（ MAX ）、小值（ MIN ）、測試次數（ NO. ）、標準偏差（ S.DEV ）；
可采用兩種方法儀器起進行校準 , 并可用基本校準法對測頭的系統誤差進行修正 ;
具有存貯功能：可存貯 500 個測量值；
具有刪除功能：對測量中出現的單個可疑數據進行刪除，也可刪除存貯區內的所有數據，以便進行新的測量；
可設置限界：對限界外的測量值能自動報警；并可用直方圖對一批測量值進行分析；
具有打印功能：可打印測量值、統計值、限界、直方圖；
具有與 PC 機通訊的功能：可將測量值、統計值傳輸至 PC 機，以便對數據進行進一步處理；
具有電源欠壓指示功能；
操作工程有蜂鳴聲提示；
具有錯誤提示功能，通過屏顯或蜂鳴聲進行錯誤提示；
設有兩種關機方式：手動關機方式和自動關機方式；
NZ/AF210數字式覆層測厚儀參數介紹：
| 測頭類型 | F | |
| 工作原理 | 磁感應 | |
| 測量范圍 (µm) | 0~1250 | |
| 低限分辨率 (µm) | 0.1 | |
| 示值 | 一點校準 (µm) | ± (3%H+1) |
| 二點校準 (µm) | ± [(1~3%H)+1] | |
| 測試條 | 小曲率半徑 (µm) | 凸 1.5 |
| 小面值的直徑 (mm) | Φ 7 | |
| 基體臨界厚度 (mm) | 0.5 | |
NZ/AF210數字式覆層測厚儀測頭選用參考表：
| 覆蓋層-基體 | 有機材料等非磁性覆蓋層 (如：漆料、涂料塑料、搪瓷和陽極化處理等) |
非磁性的有色金屬覆蓋層 (如：鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等) |
| 如鐵、鋼等磁性金屬 | F 性探頭 測量范圍：0µm~1250µm |
F 型探頭 測量范圍：0µm~1250µm |
