- 產品品牌：
- 三經
- 測量范圍：
- 燈罩
AS-100膜厚反射率測試儀器功能： ·光譜測量 在波長范圍內進行透過率、吸光度和能量的圖譜掃描,并可進行 各種數據處理如峰谷檢測、導數運算、譜圖運算等. ·數據輸出 可進行數據文件和參數文件的存取,測量結果以標準通用的 數據文件格式輸出 AS-100 分光光度計 AS-100膜厚反射率測試技術參數 波長：0.2nm 校正線性度：99.8% 測量誤差：1%以下 單次測量時間：小100ms 功耗：200W 電源：210~245V，60Hz 信號接口：USB2.0 操作系統：windows 波長范圍：200-1100 nm 數據傳輸速率：每4ms 一個全掃描入存儲器(USB2.0 接口 )，18ms（USB1.1） 每300ms 一個全掃描入存儲器(串行口) 探測器：3648 像素的線型硅CCD 陣列 8um × 20um 光柵：14 種光柵，波長從紫外到近紅外 積分時間：10um～65min 入射孔徑：寬5, 10, 25, 50, 100 或200um 的狹縫或光纖(無狹縫) 光纖連接：SMA905 接口，與0.22NA 的單股光纖相連 各類濾波片：長波通或帶通濾波片，安裝在光譜儀內 電子控制：8 個數字GPIO 接口 電子快門控制（短10um） 焦距：42 mm（輸入）， 68 mm（輸出） 光學分辨率：0.3 nm FWHM（與光柵和狹縫寬度的選擇 有關） 動態范圍：2×108（系統），1300:1（單個掃描信號） AS-100膜厚反射率測試主要特點： ·全新設計的優良的光學系統,高性能的全息閃耀光柵,確保了儀器的低雜散光. ·雙光束測光系統,配合設計先進的電路測控系統.使儀器具有高度的穩定性和 極低的噪聲. 全自動的控制系統,先進的設計理念,確保儀器具有高可靠性和高穩定性. ·可拆卸結構的樣品室設計,易于更換不同的附件.以滿足不同的分析需求. ·寬敞型開放式光源室設計,使燈源更換更加方便. · windows 環境下開發的中英文操作軟件,具有多項技術.提供了豐富的獨具特色的分析功能.
