- 產品品牌：
- K-MAC 韓國科美
- 產品型號：
- ST2000-DLXn
- 測量范圍：
- 200＆#8491;~ 35＆#13211;(根據膜的類型)
- 重量：
- 12Kg
- 外形尺寸：
- 190 x 265 x 316 mm
- 外形尺寸：
- 190 x 265 x 316 mm
- 重量：
- 12Kg
| 尺寸 | 190 x 265 x 316 mm |
| 重量 | 12Kg |
| 類型 | 手動的 |
| 測量樣本大小 | ≤ 4" |
| 測量方法 | 非接觸式 |
| 測量原理 | 反射計 |
| 特征 | 測量迅速，操作簡單 非接觸式，非破壞方式 的重復性和再現性 用戶易操作界面 每個影像打印和數據保存功能 可測量多達3層 可背面反射 |
尺寸：190*265*316mm
重量：12kg
類型：手動的
測量樣本大小：≤4"
測量方法：非接觸式
測量原理：反射計
特征：測量迅速、操作簡單、非接觸式、非破壞式、的重復性和再現性、用戶易操作界面、每個影像打印和數據保存功能、可測多達3層、可背面反射。
| 尺寸 | 190 x 265 x 316 mm |
| 重量 | 12Kg |
| 類型 | 手動的 |
| 測量樣本大小 | ≤ 4" |
| 測量方法 | 非接觸式 |
| 測量原理 | 反射計 |
| 特征 | 測量迅速，操作簡單 非接觸式，非破壞方式 的重復性和再現性 用戶易操作界面 每個影像打印和數據保存功能 可測量多達3層 可背面反射 |
| 活動范圍 | 150 x 120mm(70 x 50mm 移動距離) |
| 測量范圍 | 200Å~ 35㎛(根據膜的類型) |
| 光斑尺寸 | 20㎛ 典型值 |
| 測量速度 | 1~2 sec./site |
| 應用領域 | 聚合體: PVA, PET, PP, PR ... 電解質: 半導體: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS... |
| 選擇 | 參考樣品(K-MAC or KRISS or NIST) |
| 探頭類型 | 三目探頭 |
| nosepiece | Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt |
| 照明類型 | 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer |
| 尺寸 | 190 x 265 x 316 mm |
| 重量 | 12Kg |
| 類型 | 手動的 |
| 測量樣本大小 | ≤ 4" |
| 測量方法 | 非接觸式 |
| 測量原理 | 反射計 |
| 特征 | 測量迅速，操作簡單 非接觸式，非破壞方式 的重復性和再現性 用戶易操作界面 每個影像打印和數據保存功能 可測量多達3層 可背面反射 |
| 活動范圍 | 150 x 120mm(70 x 50mm 移動距離) |
| 測量范圍 | 200Å~ 35㎛(根據膜的類型) |
| 光斑尺寸 | 20㎛ 典型值 |
| 測量速度 | 1~2 sec./site |
| 應用領域 | 聚合體: PVA, PET, PP, PR ... 電解質: 半導體: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS... |
| 選擇 | 參考樣品(K-MAC or KRISS or NIST) |
| 探頭類型 | 三目探頭 |
| nosepiece | Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt |
| 照明類型 | 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer |
活動范圍：150 x 120mm(70 x 50mm 移動距離)
測量范圍：200Å~ 35㎛(根據膜的類型)
光斑尺寸：20㎛ 典型值
測量速度：1~2 sec./site
應用領域：聚合體: PVA, PET, PP, PR ...
電解質: 半導體: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS... 選擇：參考樣品(K-MAC or KRISS or NIST) 探頭類型： 三目探頭 nosepiece：Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt 照明類型： 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer
