X射線膜厚儀的詳細信息
X射線膜厚儀是針對高要求用戶設計的，能夠測量精密的樣品，如：微形部件或線路板上微細的表面結構，它的新穎X－射線光學鏡片，的X-射線光學原理，使這部儀器能產生小，但高輻射強度的測量點，所以，測量數十微米的面積的結構也變成可能。X射線膜厚儀配備了半導體接收器適合測量薄到數NM的鍍層，還能測量出范圍從元素氯（Z＝13）至鈾（Z ＝92）。X射線膜厚儀主要應用于線路板測試、細的鉛框一片片的掃描（指定面積），如：硬盤鍍層、細微的線。有高，可編程的XYZ測量臺及大移動范圍，測量室為長方形內槽設計，容許放入大面積的物件進行測量。
