- 品牌/商標：Bruker
- 企業類型：貿易商
- 新舊程度：全新
- 原產地：美國
探針式輪廓儀(臺階儀/膜厚儀) Dektak XT
布魯克 Dektak XT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）是一項創新性的設計，可以提供無與倫比的重現性，重現性低于5?。臺階儀這項性能的提高達到了過去40年Dektak技術創新的頂峰，更加鞏固了其行業地位。通過整合其行業產品，Dektak XT實現了性能。操作簡易，從研發到質量控制都有更好的過程控制。整合了技術突破到第十代Dektak XT臺階儀，能夠在微電子，半導體，超高亮度發光二極管（LED）、醫學、材料科學等行業實現納米級表面形貌測量。
Dektak XT 技術參數：
1. 臺階高度重復性5?
2. 單拱（Single-arch）設計大大提高了掃描穩定性
3. 前置敏化器件，降低了噪音對測量的干擾
4. 新的硬件配置使數據采集能力提高了40%
5. 64-bit，Vision64同步數據處理軟件，使數據分析速度提高了十倍。
6. 功能卓越，操作簡易
7. 直觀的Vision64用戶界面操作流程簡便易行
8. 針尖自動校準系統讓用戶更換針尖不再是難事
9. 臺階儀（表面輪廓儀）領域無可撼動的地位
10. 單傳感器設計提供了單一平面上低作用力和寬掃描范圍
