日本HORIBA公司X熒光光譜儀(有害元素檢測儀)

儀器簡介：
Horiba X射線熒光分析儀是專門針對WEEE(電氣電子產品廢棄物處理法令）和
RoHS法令（限制電器電子產品使用有害物質法令），快速地測定電子部件
中的有害元素的含量。它能對電子電器產品中所含有的有害物質如鉛、汞、鉻、
鎘、溴等元素進行快速而準確的分析。另外，通過CCD攝像頭可以非常清晰的觀
察樣品表面，選取所需要的測試點，操作非常簡單。

技術參數：
●Pb/Hg/Cd/Br檢出下限2ppm, Cr檢出下限5ppm
●采用Φ1.2ｍｍ/3ｍｍ X射線導管技術(XGT)可對微小區域進行高分析
●采用大型樣品室(460ｍｍ×360ｍｍ×150ｍｍ)
●可使用CCD攝像機(50倍)，指定試樣的位置（業內！X射線.光學同軸照射）
●單鍵操作，簡單方便
●還可以對100μm的微小區域進行分析 (需要另選)
●使用有害元素專用濾光膜，檢測器靈敏度大幅度提高


主要特點：
●Pb/Hg/Cd/Br檢出下限2ppm, Cr檢出下限5ppm
●使用1.2ｍｍ/3ｍｍ　X射線導管技術(XGT)實現微小區域的高　　　　　　靈敏度分析
●采用大型試樣室(460ｍｍ×360ｍｍ×150ｍｍ
●試樣為塑料、金屬、紙、涂料、油漆等，并真正實現無損檢測
●可使用CCD照相機(50倍)指定試樣的位置 (業內！X射線・光學
同軸照射)
●測定可一鍵實現簡單操作
●自動元素干擾修正、厚度補償
●數據輸出到EXCEL并可依據管理值實現自動判定功能