產品簡介：
本儀器利用了功率搜索技術（與TIA/EIA-455-198 相匹配），本公司的此儀器可以在很短的時間內測量裝置的偏振相關損耗（PDL）、插入損耗（IL）、光功率和偏振度（DOP）。它的測量原理與利用擾偏監測輸出功率變化的測量方法不同，利用了本公司搜索小值的方法。而且此儀器對高低的PDL和SOP都能有的輸出。它覆蓋了1260～1650nm范圍內的波段。本儀器內設RS-232端口、USB 、和提供電腦控制的網絡接口，是、快速測量無源器件、DWDM器件、生產、和實驗室的理想儀器。

產品特性：                                    產品應用：
確定性的偏振掃描                                 PDL測量
快速測量                                                 插入損耗測量
無需校準                                                 DOP測量
高和可靠性                                     PDL/DOP監測
通過RS-232端口遠程控制