儀器簡介：
S-3400N具有新開發的電子光學系統，強大的自動化功能，操作更簡便
技術參數：
二次電子SE分辨率：3.0nm (高真空，30KV) ，10nm(高真空，3KV)
背散射電子BSE分辨率：4.0nm (低真空，30KV)
倍率：5~300,000倍
主要特點：
具有強大的自動功能，包括自動燈絲飽和、自動4偏壓、自動槍對中、自動束流設定、自動合軸、自動聚焦和消色散、自動亮度對比度等
在3KV低加速電壓時保證有10nm的分辨率
新型5分割高靈敏度半導體背散射探頭
S-3400 II型具有5軸馬達臺，傾斜角度可達-20º ~+90º，樣品可達80mm
分析樣品倉可以同時安裝EDX，WDX和EBSD
真空系統使用渦輪分子泵，工作效率高
