- 品牌/商標(biāo)：JENOPTIK
- 企業(yè)類型：貿(mào)易商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：德國
| 德國耶拿光學(xué)集團JENOPTIK T8000系列粗糙度儀，計算機集成化的高性能的表面輪廓\粗糙度和波紋度測量儀，參數(shù)共計90多種，粗糙度和宏觀輪廓行程可達0-60mm或0-120mm，多種型號可選。 主要特點： ◆ 計算機集成化的高性能的表面輪廓\粗糙度和波紋度測量儀，參數(shù)共計90多種 ◆ 粗糙度輪廓測量儀符合新GB中國標(biāo)準(zhǔn) ISO國際標(biāo)準(zhǔn)/ DIN德國標(biāo)準(zhǔn)/ MOTIF法國標(biāo)準(zhǔn)/JIS日本標(biāo)準(zhǔn) ◆ 穩(wěn)定和牢固的機動立柱保證了測頭的自動定位 ◆ 在整個進給長度內(nèi)都可測量粗糙度 ◆ 在一個測量內(nèi)分析粗糙度和輪廓特征數(shù)據(jù) ◆ 粗糙度和宏觀輪廓行程可達0-60mm或0-120mm ◆ 機動立柱穩(wěn)定牢固，保證測頭的自動定位 ◆ 海量采樣點多達1,200,000點(120mm) 或 600,000點(60mm) ◆ 軟件結(jié)構(gòu)清晰，界面圖形化，操作簡單 |
