&sp;
&sp;
EDX-900能量色散X射線熒光光譜儀
&sp;
主要特點
●分析元素范圍 Na－Ｕ
●分析元素的濃度范圍 ppm—100%
●整機穩定性連續8小時測RSD<0.25%
●&sp;RoHS/WEEE檢測時間100-120秒
●美國原裝高靈敏電制冷Si(Pin)探測器
●電制冷Si(Pin)探測器&sp;晶體面積15mm2分辨率<155eV
●全數字脈沖處理器技術
●復合濾光片智能切換技術
●鍍層和薄膜測量技術
●優異的峰背比、高的痕量分析靈敏度
●分析不同類型樣品參數自動設定，無需手動操作；
●大的分析管理軟件，方便查詢歷史數據；
產品特征：
☆&sp;&sp;&sp;&sp;可分析分析氯元素和油漆中的多種元素
☆&sp;&sp;&sp;&sp;聯動裝置，軟硬結合的輻射設計
☆&sp;&sp;&sp;&sp;操作簡單、一鍵式操作
☆&sp;&sp;&sp;&sp;X射線管溫保護
☆&sp;&sp;&sp;&sp;的異地測量功能
☆&sp;&sp;&sp;&sp;具備遠程診斷和自動升級功能
&sp;技術規格
儀器型號 | EDX-900能量色散X射線熒光光譜儀 | |
分析原理 | 能量色散X射線熒光分析法 | |
分析范圍 | Na(11)-U(92)任意元素 | |
檢出下限 | Cl/Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2&sp;ppm | |
樣品形狀 | 任意大小，任何不規則形狀 | |
樣品類型 | 塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體等 | |
X射線管 | 靶材 | 鉬（Mo）靶 |
管電壓 | 5─50KV | |
管電流 | 1─1000ｕA | |
探測器 | 美國AMP-TEK&sp;X-123&sp;&sp;Si-PIN探測器，脈沖高度分析系統 | |
高壓發生器 | 美國SPELLMAN高壓發生器 | |
濾光片 | 8種濾光片自動選擇并自動轉換 | |
樣品觀察 | 500萬彩色攝像機 | |
分析軟件 | 軟件產品&sp;MS-V6.0版本，升級 | |
分析方法 | Alpha系數法（S-GSC法）、FP法、標準曲線法 | |
合規范 | IEC62321、&sp;SNT&sp;2003.4-2006&sp;、SNT&sp;2003.5-2006&sp; |
