EDX-300能量色散X射線熒光光譜儀
主要特點
●用途廣 歐盟RoHS指令和中國RoHS檢測
任意固體，液體，粉末中Na－Ｕ元素分析
各種金屬膜厚度測量、工業鍍層厚度測量
●高 ppm的，1ppm等于分之一
●速度快 30秒～200秒
●成本低 無需化學處理，無需耗材,無需液氮
●易操作 一鍵式操作，無需知識，無人為誤差
●不破壞 無需破壞產品
技術規格
儀器型號 | EDX-300 | |
分析原理 | 能量色散X射線熒光分析法 | |
分析范圍 | Ca(11)-U(92)任意元素 | |
檢出下限 | Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm | |
樣品形狀 | 任意大小，任何不規則形狀 | |
樣品類型 | 塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體等 | |
X射線管 | 靶材 | 鉬（Mo）靶 |
管電壓 | 5─50KV | |
管電流 | 1─1000ｕA | |
探測器 | 美國AMP-TEK Si-PIN探測器，脈沖高度分析系統 | |
高壓發生器 | 美國SPELLMAN高壓發生器 | |
濾光片 | 8種濾光片自動選擇并自動轉換 | |
樣品觀察 | 500萬彩色攝像機 | |
分析軟件 | 軟件產品 MS-V3.0版本，升級 | |
分析方法 | Alpha系數法、FP法、標準曲線法 | |
合規范 | IEC62321、 SNT 2003.4-2006 、SNT 2003.5-2006 |
