※. 分析：0.05%
※. 樣品室尺寸：1000*1000*300MM
※. 測量時間：60-300秒
※. 工作電源：220U&plun;5U
※. 高 壓：15-50KV
※. 管 流：600μA
※. 計數率：1300-8000Cps
※. ROHS指令有害元素儀檢出限Cd/Pb/Cr/Hg/Br為1PPM
※. 檢測時間為200秒
※. 電致冷硅針半導體探測器
※. 加強金屬元素感度分析 儀器基本配置 ※.單樣品腔※.計算機、噴墨打印機※.硅針半導體探測器
※.硅針半導體探測器
※.放大電路
※.高低壓電源
※.X光管※.無真空腔體
※. 樣品室尺寸：1000*1000*300MM
※. 測量時間：60-300秒
※. 工作電源：220U&plun;5U
※. 高 壓：15-50KV
※. 管 流：600μA
※. 計數率：1300-8000Cps
※. ROHS指令有害元素儀檢出限Cd/Pb/Cr/Hg/Br為1PPM
※. 檢測時間為200秒
※. 電致冷硅針半導體探測器
※. 加強金屬元素感度分析 儀器基本配置 ※.單樣品腔※.計算機、噴墨打印機※.硅針半導體探測器
※.硅針半導體探測器
※.放大電路
※.高低壓電源
※.X光管※.無真空腔體
使用領域：電子行業、機械制造、衛生、生態研究、冶金有色、食品工業和商業、珠寶飾、地質勘探、煤炭、造紙、建材行業
