| 礦相偏光顯微鏡 XPV-300 | |||||||||||||||||||||||||
一、儀器的用途： XPV-300系列礦相顯微鏡又稱巖礦顯微鏡、巖石顯微鏡，適合電子、冶金、化工和儀器儀表行業用于觀察透明、半透明或不透明的物質,如金屬陶瓷、集成塊、印刷電路板、液晶板、薄膜、纖維、鍍涂層以及其它非鑫屬材料。礦相顯微鏡也適合農林、、學校、科研部門作觀察分析用。礦相顯微鏡廣泛應用于生物學、細胞學、組織學、化學等研究工作。適用于衛生機構、環境保護單位、實驗室、研究所及高等院校等單位。 二、技術參數 1.目鏡：
4.聚光鏡：1.25相襯聚光鏡,可變光欄 5.載物臺：直徑 Φ140mm、360o等分刻度，游標6ˊ 6.調焦機構低位，粗微調同軸 7.濾：黃、綠、藍、磨砂玻璃 8.照明：6V/20W鹵素燈，光亮度可調 9.霉：的霉系統 三、系統簡介： 偏光顯微鏡系列XPV–300系列可作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件，是一組具有較功能和良好品質的新型產品.本儀器的具有可擴展性，可以接計算機和數碼相機。對圖片進行保存、編輯和打印 四、系統組成 電腦型(XPV-300E): 1、偏光顯微鏡 2、適配鏡 3、攝像器(300萬) 4、圖像采集及處理軟件 5、測量軟件 6、數據線 7、計算機(選購) 數碼相機型(XPV-300D):1、偏光顯微鏡 2、適配鏡 3、數碼相機 | |||||||||||||||||||||||||
上海比目儀器有限公司
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