詢價
產品介紹：
如果電子模塊和設備在burst和D脈沖測試中發生功能失效，那么被測設備（EUT）須進行修改。E開發系統被用于快速和的確定EUT內功能失效的原因，用戶能夠找出多少以及為什么的導線和元件被影響，這允許用戶直接在電路上或在布局布線中進行適宜的糾正行為。SGZ21 burst產生器可以產生須的測試脈沖，這些脈沖通過導線連接或通過磁場或電場源被耦合到EUT中，在測試過程中，通過一個傳感器和EUT內部測量得到的干擾電流，信號可以被。
包括：
Burst產生器SGZ21
磁場探頭MS02
磁場源探頭BS02
磁場源探頭BS04 DB
磁場源探頭BS05 D
磁場源探頭BS05 DU
電場源探頭00
電場源探頭01
電場源探頭02
電場源探頭05 D
電場源探頭08 D
附件
使用說明
帶有泡沫塑料填充的包裝箱
