溫度沖擊試驗(yàn)_其他實(shí)驗(yàn)儀器裝置

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深圳市華通檢測(cè)技術(shù)有限公司

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經(jīng)營(yíng)模式：工廠

主營(yíng)產(chǎn)品：高溫試驗(yàn),低溫試驗(yàn),溫度沖擊,溫度循環(huán),濕度試驗(yàn),低氣壓試驗(yàn),太陽(yáng)輻射試驗(yàn),氣體腐蝕試驗(yàn),氙燈老化試驗(yàn) ,淋雨試驗(yàn)(IP等級(jí)),鹽霧試驗(yàn) ,砂塵試驗(yàn)(IP等級(jí)) ,紫外線測(cè)試 ,HALT試驗(yàn) ,霉菌試驗(yàn),ISTA測(cè)試 ,包裝箱擠壓試驗(yàn) ,堆碼試驗(yàn) ,振動(dòng)試驗(yàn),斜面沖擊試驗(yàn)

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產(chǎn)品品牌：: 華通檢測(cè)

產(chǎn)品型號(hào)：: 溫度沖擊試驗(yàn)

用于電子、電工產(chǎn)品和其他軍用設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)，也是篩選電子元器件初期故障的助手。

兩箱式?jīng)_擊箱：測(cè)試樣品的移動(dòng)時(shí)間小于10秒，溫度恢復(fù)時(shí)間小于5分鐘。

三箱式?jīng)_擊箱：溫度轉(zhuǎn)換時(shí)間小于5分鐘。

溫度沖擊對(duì)產(chǎn)品的影響:

1、元器件涂覆層脫落、灌封材料和密封化合物龜裂甚至破密封外殼開裂、填充料泄漏等，使得元器件電性能下降；

2、由不同材料構(gòu)成的產(chǎn)品，溫度變化時(shí)產(chǎn)品受熱不均勻，導(dǎo)致產(chǎn)品變形、密封產(chǎn)品開裂、玻璃或玻璃器皿和光學(xué)器等破碎、

3、較大的溫差，使得產(chǎn)品在低溫時(shí)表面會(huì)產(chǎn)生凝露或結(jié)霜，在高溫時(shí)蒸發(fā)或融化，如此反復(fù)作用的結(jié)果導(dǎo)致和加速產(chǎn)品的腐蝕。

低溫試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):

1、MIT-STD-883E Method
2、JESD22-B106
3、EIAJED- 4701-B-141

4、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)；
5、GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)；
6、GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；
7、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn)。
8、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式
9、GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
10、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則
11、EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估

我公司可靠性實(shí)驗(yàn)室可根據(jù)客戶的需求，提供溫度沖擊測(cè)試服務(wù)。