- 產品品牌：
- 法國JY
- 產品型號：
- Activa
技術參數
波長連續覆蓋120—800nm
象素分辨率為0.0035nm，
全譜120-800nm測量僅需30秒！
主要特點
Activa是采用新一代背照射百萬像素固態檢測器與波長連續覆蓋120—800nm的光譜的ICP-OES儀器。完全可以選擇高靈敏度和無干擾的譜線進行元素的分析，尤其可以以高靈敏度的方式測定微量鹵素元素。
Activa采用光譜的無色差分光系統，使得分辨率在全譜范圍內恒定不變，這種設計免除了中階梯光柵CCD（CID）系統的缺點和局限（分辨率隨波長的增加而變差），她的單一的分光成像元件比二維色散光學系統產生的雜散光低得多，并且絕無普通CCD的“溢出”現象。
Activa的CCD采用真空冷卻的方式，既保證了極低的暗電流和讀出噪聲，又避免了大流量高純氣體的消耗，比任何的ICP光譜儀器起動更快速！
Activa 的象素分辨率為0.0035nm，因而適用于富譜線基體——如稀土、鎢、鉬、鋯等合金的分析，全譜120-800nm測量僅需30秒！
儀器介紹
Activa是采用新一代背照射百萬像素固態檢測器與波長連續覆蓋120—800nm的光譜的ICP-OES儀器。完全可以選擇高靈敏度和無干擾的譜線進行元素的分析，尤其可以以高靈敏度的方式測定微量鹵素元素。
Activa采用光譜的無色差分光系統，使得分辨率在全譜范圍內恒定不變，這種設計免除了中階梯光柵CCD（CID）系統的缺點和局限（分辨率隨波長的增加而變差），她的單一的分光成像元件比二維色散光學系統產生的雜散光低得多，并且絕無普通CCD的“溢出”現象。
Activa的CCD采用真空冷卻的方式，既保證了極低的暗電流和讀出噪聲，又避免了大流量高純氣體的消耗，比任何的ICP光譜儀器起動更快速！
Activa 的象素分辨率為0.0035nm，因而適用于富譜線基體——如稀土、鎢、鉬、鋯等合金的分析，全譜120-800nm測量僅需30秒！
