- 產(chǎn)品品牌：
- SONOSCAN
- 產(chǎn)品型號：
- D9500/GEN5 C-SAM
SONOSCAN D9500 C-SAM 超聲波掃描顯微鏡（超聲波探傷儀）
通過樣品在液晶(Liquid Cristal)和熒光微型熱成像（FMI）的圖像,分析產(chǎn)品內(nèi)部的失效情況
原理 ：
利用不同材料對超聲波聲阻抗不同，對聲波的吸收和反射程度不同，來探測半導(dǎo)體、元器件的結(jié)構(gòu)、缺陷、對材料做定性分析。
應(yīng)用:
D9500以其無與倫比的和穩(wěn)健性成為了現(xiàn)代微聲學(xué)成像的標(biāo)準(zhǔn)，是失效分析，工藝開發(fā)，材料分析與表征和小批量生產(chǎn)的選擇。D9500采用同時傳輸和反射模式，并且應(yīng)用更新更符合人體工程學(xué)設(shè)計。
主要特征：
慣性平穩(wěn)掃描裝置能減少振動，確保的掃描結(jié)果
.新的，更大的掃描范圍，有多個托盤可以容納大樣本
.多語言操作系統(tǒng)，使用者可以選擇母語：中文，英語和日語。
.溫度控制選擇：無論周圍環(huán)境中空氣溫度變化，會確保一天中水的溫度保持不變
B型掃描定量分析模式（Q-BAM）：Sonoscan特有的B型掃描模式，為用戶提供一個極準(zhǔn)確且包含深層數(shù)據(jù)的虛擬橫截面。
SONOSCAN Gen5 C-SAM 超聲波掃描顯微鏡(超聲波探傷儀)
SONOSCAN Gen5 C-SAM超聲波掃描顯微鏡通過樣品在液晶(Liquid Cristal)和熒光微型熱成像（FMI）的圖像,分析產(chǎn)品內(nèi)部的失效情況
檢測：1.材料內(nèi)部晶格結(jié)構(gòu)，雜質(zhì)顆粒，沉淀物；2.內(nèi)部裂紋；3.分層缺陷；4.空洞、氣泡。
應(yīng)用:
Gen5 C-SAM型聲學(xué)顯微鏡是新一代聲學(xué)顯微成像（ AMI ）的創(chuàng)新。它具有技術(shù)，先進的功能，并改善了人機工程學(xué)， 將聲學(xué)顯微成像提高到新高度。Gen5具有廣泛的用途。無論是倒裝
芯片或晶圓的無損失效分析，工藝程序，研發(fā)，高可靠性軍事應(yīng)用，或者篩選智能卡， Gen5都可以滿足您所有的需求。
主要特征：
* 虛擬二次掃描模式：收集并以數(shù)字形式儲存廣泛的聲學(xué)數(shù)據(jù) 從而可以執(zhí)行完整的樣品分析，即使在沒有可用樣品的情況下，也能進行分析。
* TurboSpeed在高頻率下可提供較快成像速度，
在高像素密度下，圖像采集速度可增加2.5X。
* 數(shù)字圖像分析器 (DIA) 采用先進算法，
量化接口數(shù)據(jù)，并幫助建立和自動的接受/拒收標(biāo)準(zhǔn)。
* ESD安全配備清潔室。
* 開放式掃描區(qū)，方便裝卸測試樣品，
能夠檢測JEDEC的2托盤或者300mm晶圓。
* 慣性平穩(wěn)掃描裝置不僅能減少振動
并且能夠確保的掃描結(jié)果
* 多語言操作系統(tǒng)和視覺聲學(xué)接口。
