光譜儀器X射線熒光光譜儀XRF測試儀

納優科技竭誠為您服務：（徐生）

X 射線熒光分析技術作為一種快速分析手段， 為我國的相關生產企業提供了一種可行的、低成本的、并且是及時的，檢測、篩選和控制有害元素含量的有效途徑；相對于其他分析方法（例如：發射光譜、吸收光譜、分光光度計、色譜質譜等）， XRF 具有無需對樣品進行特別的化學處理、快速、方便、測量成本低等明顯優勢，特別適合用于各類相關生產企業作為過程控制和檢測使用。 （ XRF ，又稱 ROHS檢測儀）

X 射線熒光分析技術可以分為兩大類型：能量色散 X 射線熒光分析（ EDXRF ，以下我們簡稱能量色散）和波長色散 X 射線熒光分析(WDXRF，以下我們簡稱波長色散）；而能量色散型又根據探測器的類型分為（ Si-PIN ）型和 SDD 型。在不同的應用條件下，這幾種類型的技術各有其突出的特點；以下將針對歐盟 ROHS & WEEE 指令的具體應用情況，對能量色散和波長色散進行比較和說明： 

1 、測量： 盡管目前各家能量色散儀器（均為 Si-PIN 類型）生產商和銷售商都給出了很高的技術指標，但在實際應用中（特別在被測樣品不進行處理的情況下），真正可以期待的準確度都在 200~300ppm 之間（測量塑料中有害元素時，準確度會好一些；對不規則樣品，則會更差）；同時，對于同類型的儀器，進口儀器的指標和國產儀器之間并沒有本質差別（基本配置），但進口儀器的價格卻昂貴很多。波長色散測量準確度比能量色散類型要高一個數量級，基本在 20~50ppm 左右。 

     2 、測量時間： 由于波長色散配備較大功率的 X 光管，熒光強度高；因此，波長色散儀器占用較短的測量時間，便能達到較高的測量。 

     3 、被測量樣品的要求： 由于技術特點的差異，波長色散需要對被測量樣品進行簡單的處理；對固體樣品的一般處理方法是將被測量樣品表面打磨光滑，對粉末和其他樣品可以采用磨細后進行粉末壓片法處理，相應的設備市場上很容易找到。能量色散型儀器的優勢在于：可以對樣品不作特別復雜的處理而直接進行測量，對樣品也沒有任何損壞，適合直接用于生產的過程控制中；但需要強調指出的是：從熒光理論上講，被測量樣品的預先處理是必須的，對于能量色散儀器來說，我們可以采取一些技術手段進行校正來滿足實際生產控制的需要，但即使采用了技術校正的手段，對不規則樣品的直接測量也是以犧牲測量準確度作為代價的。 

    4 、應用范圍： 由于波長色散和能量色散類型各自的技術特點，兩種類型儀器所側重的應用方案也不盡相同；波長色散具有較高的測量，但同時需要對被測量樣品進行簡單處理，更適用于進廠原材料、半成品、成品的檢測和質量控制；能量色散雖然測量稍差，但具有快速、直接測量各種形狀樣品的優點，因此可直接在生產線上用于各種部件、電子元器件的檢測。 

    5 、能量分辨率： 能量分辨率是儀器的主要指標，分辨率數值越小，分辨率越高，儀器性能越好。 

    6 、熒光強度： 對于儀器來說，各元素含量與該元素的熒光強度成正比關系；熒光強度越高，則統計誤差越小，測量的準確度越高，儀器性能越好。 

7 、使用壽命： 波長色散類型儀器的使用壽命一般為 10 年以上；能量色散類型儀器的使用壽命一般也大于 5 年，影響能量色散型儀器壽命的主要因素是探測器部分老化導致其性能指標變差。 

二．產品介紹 

針對能譜儀的產品主要是X光管和X探測器?，F在我們主推的元件是50KV 光管和Si-PIN探測器。下面將這兩款元件簡單說明一下。 

1. 探測器 

探測器為新的6mm^2能量色散熒光光譜儀探測器，能到達到177eV的分辨率（Fe55,5.9KeV@-30℃，6us積分時間）。XE600包括Si-PIN二極管，超低噪聲的JFET，高性能兩級半導體冷卻器，這些可以使在高計數頻率時有穩定的輸出信號。XE600的前置放大器提供低噪聲的模擬或數字脈沖修正放大器。 

規格 

二極管感光面積：6mm^2 

二極管厚度：400um 

探測器窗口：8um，25um or 100um厚 鈹窗 

瞄準儀材料：W /Co /Ti /Al 

能量分辨率：一般情況下177eV，190 eV（Fe55，5.9KeV@-30℃，6us積分時間） 

峰背比：一般情況下 1500（1KeV，6us積分時間） 

一般情況下 1300（2KeV ,6us積分時間） 

探測器的特點是小巧，特別是針對便攜式分析儀，在性價比上，同類產品的價格低20%。 

2. 50KV 光管 

目前 50KV X射線光管新的型號配置。50KV光管為小型低能量的光管，主要應用于臺式和手持設備。X射線光管具有輕巧，重量小，能夠方便的嵌入客戶的儀器內。 

規格 

光管材料：合金-陶瓷 可選靶材：Ag,W,Rh,Pd 

陰極材料：鎢絲 高壓極性：接地性良好的陽極