Ux-720 鍍層厚度檢測儀 華唯
配置型號 | 探測器 | X光管 | 高壓電源 |
Ux-720 M | AMPTEK Si-PIN X-123() | 上海科頤維（國產） | 咸陽威思曼(國產) |
Ux-720 H | AMPTEK Si-PIN X-123() | 上海科頤維（國產） | spellman() |
Ux-720 S | AMPTEK SDD X-123() | 上海科頤維（國產） | spellman() |
產品介紹：
Ux-720新一代國產鍍層厚度檢測儀，采用高分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探測器），測量和測量結果業界。
采用了FlexFP-Multi技術，無論是生產過程中的質量控制，還是來料檢驗和材料性能檢驗中的隨機抽檢和全檢，我們都會提供友好的體驗和滿足檢測的需求。
Ux-720微移動平臺和高清CCD搭配，旋鈕調節設計在殼體外部，觀察移動位置簡單方便。
X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用，了大批量生產電鍍產品的檢驗條件，、快速和更準確的特點，對在電子和半導體工業中品質的有了檢驗的保障。
Ux-720鍍層測厚儀采用了華唯新技術FlexFp -Multi，不在受標準樣品的限制，在無鍍層標樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度，測試結果經得起科學驗證。
樣品移動設計為樣品腔外部調節，多點測試時移動樣品方便快捷，有助于效率。
設計更科學，軟硬件配合，機電聯動，輻射高于國標GBZ115-2002要求。
軟件操作具有操作人員分級管理權限，一般操作員、主管使用不同的用戶名和登陸，測試的記錄同時自動添加測試人的登錄名稱。
產品指標：
測厚技術：X射線熒光測厚技術
測試樣品種類：金屬鍍層，合金鍍層
測量下限：0.003um
測量上限：30-50um（以材料元素判定）
測量層數：10層
測量用時：30-120秒
探測器類型：Si-PIN電制冷
探測器分辨率：145eV
高壓范圍：0-50Kv，50W
X光管參數：0-50Kv，50W，側窗類；
光管靶材：Mo靶；
濾光片：3種自動切換；
CCD觀察：260萬像素
微移動范圍：XY15mm
輸入電壓：AC220V，50/60Hz
測試環境：非真空條件
數據通訊：U2.0模式
準直器：?1mm，?2mm，?4mm
軟件方法：FlexFP-Mult
工作區：開放工作區 自定義
樣品腔：330×360×100mm
標準配件
樣品固定支架1支
窗口支撐薄膜：100張
保險管：3支
計算機主機：品牌+雙核
顯示屏：19吋液晶
打印機：噴墨打印機
可選配件
可升級為SDD探測器
可以實現全自動一鍵操作功能，準直器自動切換，濾光片自動切換，開蓋隨意自動停，樣品測試照片自動拍照、自動保存，測試自動彈出，供應商信息自動篩選和保存
