牛津 COMPA Eco X射線鍍層測厚儀
一、功能
1,牛津X射線熒光鍍層測厚儀 COMPA Eco 采用X射線熒光光譜法測量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測量方法滿足GB/T 16921-2005標準（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。
2,牛津X射線熒光鍍層測厚儀 COMPA Eco 鍍層元素范圍：鈦～鈾，包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、鉻、鈀等。
3,鍍層層數(shù)：多至4層。
4,牛津X射線熒光鍍層測厚儀 COMPA Eco 可測厚度范圍：通常0.01微米到30微米，視樣品組成和鍍層結(jié)構(gòu)而定。
二、特點和數(shù)據(jù)
1,牛津X射線熒光鍍層測厚儀 COMPA Eco 采用基本參數(shù)法校準，可在無薄膜標樣情況下生成校準曲線以完成測量。
2,X射線采用從上至下的照射方式，即使是表面高低不一的樣品也可以正確測量。反之，如果是從下至上的照射方式，遇到表面凹凸的樣品，無法調(diào)整Z軸距離，導(dǎo)致測量光程的變化，引起測量的誤差。
3,牛津X射線熒光鍍層測厚儀 COMPA Eco 采用開放的校準模式，用戶可自行建立校準曲線不受儀器廠家限制。
4,提供合NIST美國標準技術(shù)協(xié)會要求，A2LA美國實驗室協(xié)會的標準樣品，可驗證測量結(jié)果并讓實驗數(shù)據(jù)具有可追溯性。
5,Windows 7操作系統(tǒng)，數(shù)據(jù)可存儲，轉(zhuǎn)移，并可一鍵生成包含測量數(shù)據(jù)、統(tǒng)計值、樣品圖片和趨勢圖等要素的（word格式）。
廣州峰儀機電科技有限公司
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