能量色散X射線熒光光譜儀：X射線光譜分析技術作為直接應用X射線的一門分支學科和一種實用分析技術，目前已在地質、冶金、材料、環境、工業等無機分析領域得到了其廣泛的應用，是各種無機材料中主組分分析重要的手段，在痕量和痕量分析中發揮著十分重要的作用。尤其是在分析和原位分析方面，X射線熒光光譜技術具有的。HeLeeX　E8是一款通用型RoHS儀器。其光路系統國內外幾十年RoHS檢測儀技術，部件采用美國，軟件算法采用國際RoHS檢測儀前沿技術，HeLeeX　E8　RoHS檢測儀器所用標準樣品均有第三方檢查機構；HeLeeX　E8精密度、準確度、檢出限等技術參數國內外同類RoHS儀器。
　　
　　儀器硬件配置
　　 3.1、探測器
　　類型：Si-PIN探測器（采用原裝風電致冷半導體探測器）
　　Be窗厚度：1mil
　　晶體面積：25mm2
　　分辨率：149eV
　　信號處理系統DP5
　　
　　3.2、X射線管
　　電壓  ：0~50kV
　　電流  ：2.0mA
　　功率  ：50W
　　靶材  ：Mo
　　Be窗厚度  ：0.5mm
　　使用壽命  ：大于2萬小時
　　
　　3.3、高壓電源
　　輸出電壓：0~50kV
　　燈絲電流：0~2mA
　　功率：50W
　　紋波系數：0.1%（p-p值）
　　8小時穩定性：0.05%
　　3.4、攝像頭
　　微焦距
　　免驅動
　　500萬像素
　　3.5、準直器、濾光片
　　快拆卸準直器、濾光片系統
　　多種材質準直器
　　光斑大小Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ3.0mm、Φ5.0mm
　　多種濾光片、準直器組合，軟件自動切換
　　3.6、其他配件
　　   開關電源
　　   低噪聲、大風量風扇
　　四、軟件配置
　　軟件名稱：HeLeeX　ED　Workstation　V3.0.
　　應對指令：RoHS檢測（Pb、Cd、Hg、Cr、Br）、無鹵檢測（Br、Cl）。
　　開放式分析模型。
　　多種數據算法，根據不同基體樣品，配備不同算法，儀器測試精準度。
　　數據一鍵備份、一鍵還原，增加數據性。
　　操作界面簡潔，使用方便。
　　軟件幫助功能。