V-5000系列
業界的問題解決工具現在再次得到進步。隆重推出的 CV-5000 系列，它能夠困難地解決高難度應用。
11x 500 萬像素CCD
在任何生產線上都可以進行圖像處理
11x CCD 可 61.2 ms（16.3 次/ 秒）傳輸 500 萬像素（2432 x 2050像素）。 生產線也可享受高圖像處理帶來的好處。 的 CV-5000 系列多可使用 4 個 500 萬像素的 CCD，并同時傳輸圖像，因而多可實現 2000 萬像素的高檢測。
3+1 處理器技術
平行處理系統
3 + 1 平行處理結構能夠滿足高容量 500 萬像素圖像、顏色處理以及執行復雜數字運算的算法的繁重處理需求。
16種不同的 CCD
用戶可針對應用方式選擇適合的CCD
用戶可從業界的 500 萬像素、200 萬像素及小型 CCD 中選擇適合應用需求的CCD。 每款 CCD 均提供彩色和黑白型號。 CV-5000 系列多可同時運行四種不同的CCD，從而使多 CCD 應用更。
隆重推出可擴展的控制器結構
新照明控制方式
該結構允許用戶通過擴展單元來靈，其中包括 CCD 擴展單元和照明控制擴展單元。 用戶可以只留下要的功能，這樣不能夠滿足要求、減少成本，同時仍具備未來升級的靈。
針對高難度應用的缺陷檢測算法
缺陷檢測應用的解決方案
為檢測形狀不規則的輪廓上的異物或毛刺，現已增加多種新算法。 這些新算法還能過濾反光或其它背景干擾，從而只突出瑕疵。
- Trend Edge缺陷檢測
檢測模制樹脂物品的毛邊和缺口
檢測圓形邊緣的缺口，過去很難，現在得以輕松檢測。
- 實時濃淡補正
即使背景的不規則引起明暗差別也能穩定檢測異物。
的圖像增強處理
在惡劣的條件下實現的檢測
前處理功能已做出重大改進，可消除工件變化所造成的環境變化。 新增的“Fine Color 處理”功能可直接處理全色彩，以便從具有圖案或光線變化的背景中地提取缺陷。
在圓形金屬表面上進行異物檢測
通過取消金屬反射突出異物
在對角線背景中進行異物檢測
去除條紋，只顯示異物
ShapeTrax II?
在惡劣的條件以高和度檢測目標物
ShapeTrax II 是邊緣形狀數據來檢測的搜索，即便目標物上有污點、對比度較低或大小不一。 ShapeTrax II 能夠在惡劣的條件下地檢測定位十字標，并擁有業界的，0.025 像素。
