廠家:布魯克(Bruker)
品牌中的精英,精品中的!
快速、、準確;探礦、找礦、評估的理想工具。
測量范圍(Mg-U)
Mg,Al,Si,P,S,Cl,K,Ca,Sc,Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Zn,As,Se,Rb,Sr,Zr,Nb,Mo,Pd,AG,CD,
Sn,,Te,CS,Ba,Hf,Ta,W,Re,PT,Au,Hg,Pb,Bi,Th,U等。
測量礦種:各種金屬、非金屬、貴屬和金屬礦
例如:鐵礦、銅礦、鋅礦、鈦礦、釩礦、鉻礦、錳礦、鈷礦、鎳礦、鉛礦、鉬礦、鎂礦、鋁礦、
銀礦、金礦、鉑礦、硫礦、砷礦、硒礦等
主要應用
主要分析礦體、礦塊、礦粉、礦渣、精礦、粗礦、尾礦;
還可分析沉淀物、填料、土壤、泥土、泥漿;粉塵、灰塵、過濾物、薄膜層等。
對不規則或很小的樣品快速完成識別測試。
主要特性:
簡體中文界面
Windows Mobile5.0操作系統
開機后不需校準就可直接測量
采用布魯克技術的XFlash®SDD檢測器
分析元素小從Mg開始,達40多種。
分析范圍:ppm級至50%以上(與礦樣種類有關)
實時分析數據和圖譜顯示
XRF軟件具有定性、定量分析功能,控制光管的電壓和電流,使測量范圍更廣
測量,不受樣品形狀限制
儀器自動校準,自動存儲測量數據,無需人工干預
主機一體化設計,度密封,水、塵,沖擊
可選擇一鍵式定時測量
內置Bruker操作軟件,計算和顯示速度快
儀器適應高溫,低溫,潮濕,雨天、沙塵等惡劣環境
在開機狀態下長時間不測量時,儀器會自動進入待機狀態,以節省電源和保護儀器
X射線管耐用,采用Peltier半導體恒溫制冷技術更增加了使用壽命
選配GPS定位系統,可定位礦置并繪制礦脈分布圖
FP模式,適于各種礦石樣品,大大縮短現場工作時間。自動補償元素間干擾。
軟件升級。







