功能：結合三次元、二次元、工具顯微鏡、投影儀的功能于一體。
　　大的2D/3D測量系統軟件
　　①光學座標系統為基點測量產品的任意二維、三維測空間尺寸。
　　②探針座標系統為基點測量產品的三維空間及二維平面尺寸。
　　③采用相同的座標系統，使用測頭的三維測量可與影像二維混合使用或使用影像的二維平面與三維立體測量結合。
　　
　　主要高質量配件組成
　　1.光學：
　　①。美國精密率起低變形（遠心光學設計）的全自動變倍鏡頭，全自動對焦（變倍后不需要重新校正）。
　　②。200萬像素高清工業CCD（美國TEO）。
　　③。光源：電腦程控四路上光源，直軸可調下光源。
　　2.測頭：英國Renishaw接觸式測頭。
　　3.光柵尺：光柵尺0.0005mm.
　　
　　四、全自動編程：光學測量及探針測量可同時在一組編程中混合使用。
　　儀器特點
　　有點，線，圓，兩點距離，角度等基本量測功能，有坐標平移和坐標轉換功能
　　四相自動可調光源，可程序控制
　　可以攝取被測物體的圖像
　　伺服馬達驅動
　　自動對焦量測高度/深度
　　自動版光學影像量測軟件
　　IUI功能，以盡量少的步驟完成量測操作。
　　自動編程
　　SPC功能測量數據可導入EXCEL，WORD或CAD軟件。
　　
　　基本功能介紹：
　　提供影像量測工具，可進行基本幾何元素點線圓弧量測
　　組合元素量測，如角度，，圓心距，圓切線，兩線距，兩線中線，中心點，垂
　　直距離，角平分線，兩線交點等
　　形位誤差量測，如同心度，真圓度，直線度，平行度等
　　強大之數算分析
　　影像直接經由計算機屏幕顯示觀察直接量測存盤
　　利用影像工具可快速進行2D輪廓邊界點掃描
　　量測工件圖形化顯示，圖形可存盤、打印，并可以轉TXT、WORD、EXCEL
　　及AUTOCAD檔案式
　　提供公差分析，可進行之品管檢驗
　　工件的對象化可直接對對象進行幾何基本運算
　　兼容于2000，XP操作系統。
　　
　　功能介紹：
　　1.自動對焦
　　2.影像自動捕捉，操作簡便，量測高
　　3.IUI功能，以盡可能少的時間完成操作
　　4.AUTOCAD讀檔，圖形比對
　　5.全自動同心變倍，同一工件可在不同倍率下量測
　　6.工作不擺正，有座標轉換功能，量測效率高
　　7.全自動編程測量
　　8.SPC功能
　　9.靜態量測功能。
　　10.工件測量圖片取像功能。
　　SPC量測結構分析模塊功能
　　提供均值-差控制圖（Xbar-R）
　　提供均值-標準偏差控制圖（Xbar-S）
　　提供中位數-差控制圖（Xm-R）
　　提供單值-移動差控制圖（X-RM）
　　運行圖
　　工序能力趨勢圖
　　工序能力分析圖
　　可支持客戶按自己要求編排工程輸出報表
　　具有運行記憶功能，可斷電等不可拒因素造成運行過程中的數據丟失，便可在原基礎上繼續運行。

其他說明

具體型號	QV-3020PRO-3D新款(LT-3020DT 老款)
(X/Y/Z軸)量測行(mm)	300*200*150
全機尺寸(mm)	650*720*1650
機臺底座和立柱材料	高鋼性鋁合金
光源材質	LED冷光源
X/Y/Z軸量測	(2+L/200)um
放大倍率光學:0.7--4.5X,影像:28--180X
光學尺解析度	0.5 um
重復測量	1 um
運行速度	max:300mm/S
操作方式	自動
電源供給	220V
合適溫度,濕度	溫度:19°--24°,濕度:45%--75%
保修期	2年