一、用途：
平面平晶是用于以干涉法測量塊規，以及檢驗塊規、量規、件密封面、測量儀器及測量工具量面的研合性和平面度的常用工具。
適用于光學加工廠、廠礦企業計量室、精密加工車間、閥門密封面現場檢測使用，也適用于高等院校、科學研究等單位做平面度等檢測。
二、主要技術規格：
1、平面平晶 YDF-1標準外形尺寸單位：mm
規格00 250
直徑00 250
高度 25 30 40 45
規格尺寸平面平晶，環形平面平晶，方形平面平晶可定做。
2、平面平晶制成兩種：1級和 2級
3、平面平晶工作面的平面度偏差允許值為：
直徑為 30至60mm 1級平晶 0.03μm
直徑為 30至60mm 2級平晶 0.1μm
直徑為 80至150mm 1級平晶 0.05μm
直徑為 80至150mm 2級平晶 0.1μm
更大尺寸平面平晶平面度偏差允許值，根據標準。
4、平面平晶工作面的局部偏差允許值為：0.03μm
5、平面平晶測量工作應在室溫2 0℃&plun;3℃條件下保持數小時后進行。
平面平晶是用于以干涉法測量塊規，以及檢驗塊規、量規、件密封面、測量儀器及測量工具量面的研合性和平面度的常用工具。
適用于光學加工廠、廠礦企業計量室、精密加工車間、閥門密封面現場檢測使用，也適用于高等院校、科學研究等單位做平面度等檢測。
二、主要技術規格：
1、平面平晶 YDF-1標準外形尺寸單位：mm
規格00 250
直徑00 250
高度 25 30 40 45
規格尺寸平面平晶，環形平面平晶，方形平面平晶可定做。
2、平面平晶制成兩種：1級和 2級
3、平面平晶工作面的平面度偏差允許值為：
直徑為 30至60mm 1級平晶 0.03μm
直徑為 30至60mm 2級平晶 0.1μm
直徑為 80至150mm 1級平晶 0.05μm
直徑為 80至150mm 2級平晶 0.1μm
更大尺寸平面平晶平面度偏差允許值，根據標準。
4、平面平晶工作面的局部偏差允許值為：0.03μm
5、平面平晶測量工作應在室溫2 0℃&plun;3℃條件下保持數小時后進行。
