采用光纖錐耦合X射線探測器，限度的了光通量，用1：1的光纖面板，耦合效率可70%，大大了相機的探測能力。圖像不失真，不需要對影像進行較正，可以讓系統(tǒng)的軟件變得更簡單
　　X射線探測器的詳細介紹
　　
　　高耦合效率，降低設備X光源的投入
　　影像不失真，讓系統(tǒng)軟件變得更簡單
　　采用光纖錐耦合的X射線探測器，限度的了光通量，用1：1的光纖面板，耦合效率可70%，大大了相機的探測能力。圖像不失真，不需要對影像進行較正，可以讓系統(tǒng)的軟件變得更簡單。
　　此相機廣泛的應用于工業(yè)檢測，如鑄件和焊接檢測、PCB板檢測、工業(yè)等。
　　
　　產(chǎn)品規(guī)格：
　　標準產(chǎn)品有以下三個型號，根據(jù)X光源不同，要求分辨率以及目標物的厚度不同，有可能需要改變熒光屏材料和厚度。我們向您提供的解決方案。
　　HR-75-X-ray
　　400萬像素高分辨率；選用75：25的光纖錐耦合，視野可45mm X 45mm.
　　HR-40-X-ray
　　140萬像素高分辨率；選用40：11的光纖錐耦合，視野可32mm X 24mm.
　　HR-25-X-ray
　　體積小巧，直徑55mm，長68mm，易于安裝；分辨率高；動態(tài)范圍好。
　　
　　定制產(chǎn)品：
　　我們可根據(jù)客戶的需求定制X-ray相機
　　
　　熒光屏類型和厚度
　　附加層（如Alu，ITO）
　　輸入窗口類型和厚度
　　相機電子部分（如計算機接口）
　　制冷（針對于部分型號）
　　真空接口
　　視野大小
　　空間分辨率
　　
　　應用領域
　　成像設備：
　　X光成像
　　眼科成像
　　X射線斷層成像
　　局部骨骼成像
　　
　　工業(yè)檢測設備：
　　PCB或BGA 檢查
　　半導體缺陷檢查
　　食品檢查
　　X光光斑成像
　　探傷
　　電線檢查
　　
　　安設備：
　　紫外線導彈預警
　　距離選通激光雷達
　　夜視相機
　　物探測
　　指紋獲取
　　火災探測

其他說明

產(chǎn)品型號	HR-25-X-Ray	HR-40-X-Ray	HR-75-X-Ray
CCD芯片	2/3''芯片,752*582	2/3''芯片,1392*1040	1.2''芯片,2048*2048
像素尺寸	11.6um*11.2um	6.45um*6.45um	7.4um*7.4um
輸出格式	標準CCIR模擬型號輸出	8bit或1it數(shù)字信號輸出	8bit或1it數(shù)字信號輸出
幀速	視頻速度	17幀或30幀	15幀
計算機接口	無	1394或以太網(wǎng)接口	以太網(wǎng)接口
視場	20mm*15mm(其它可選)	32mm*24mm(其它可選)	45um*45um
熒光屏鍍膜	P43(其它可選)	P43(其它可選)	P43(其它可選)
X光響應范圍	20kev-100kev	20kev-100kev	20kev-100kev
入射光窗	0.5mm厚鋁膜(其它可選)	0.5mm厚鋁膜(其它可選)	0.5mm厚鋁膜(其它可選)
分辨率	50um	≤50um,10lp/mm	≤50um,11 lp/mm