LCR測試儀Agilent 4287A帶測試座HP4287A趙敏


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安捷倫 4287A射頻LCR測試儀在1 MHz～3 GHz頻率范圍可以提供、和快


速測量，以改進生產線上對電子元件進行測試的質量和生產率。與反射測量技術


不同，采用直流電壓測量技術能在大的阻范圍進行測量。


生產率高、質量
安捷倫 4287A 適于在射頻范圍對電子元器件進行測試。4287A的測量速度快


。此外，在小測試電流(100mA)處優良的測試重復性還可以顯著生產率，因


為所需的取平均過程短。


系統組建簡單


測試頭電纜(1m或利用延伸電纜時為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測件接點


附近，而不會使誤差有任何。內置比較器功能、GPIB接口和處理器接口


可用來簡化與元件固定裝置和PC機的組合。增強的比較器功能可以使復雜的倉室


適用于多頻或陣列芯片測試。


便于使用


8.4英寸彩色顯示器能清楚觀察測量設置和結果。新研制的用戶接口使操作過程


更為方便且無差錯。內置統計分析功能可以提供測試質量和效率的過程。可


選用的LAN接口有助于統一進行生產監控。此外，若干APC-7，SMD測試夾具可以


與4287所提供的夾具架和APC-3.5轉APC-7適配器聯用，從而無需制作夾具。
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