詢價
- 品牌/商標：九州空間
- 企業類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產地：北京
- 數字式四探針測試儀：數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器
- 四探針測試儀：電 阻：1×10-4～2×105 Ω
- 四探針測定儀：儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺以及PC軟件等部分組成。
JZ-ST2253型數字式四探針測試儀
二、概述 數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準。 儀器成套組成：由主機、選配的四探針探頭、測試臺以及PC軟件等部分組成。 主機主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機系統組成，USB通訊接口。儀器主機所有參數設定、功能轉換全部采用數字化鍵盤和數碼開關輸入；具有零位、滿度自校功能；測試功能可自動/手動方式；儀器操作可由配套軟件在PC機上操作完成，也可脫PC機由四探針儀器面板上獨立操作完成。測試結果數據由主機數碼管直接顯示，也可連機由軟件界面同步顯示、分析、保存和打印！ 探頭選配：根據不同材料特性需要，探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭，以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻；也有球形鍍金銅合金探針探頭，可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜（ITO膜）或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具，還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。配專用探頭，也可測試電池極片等箔上涂層電阻率方阻。 測試臺選配：一般四探針法測試電阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選SZT-K型測試臺，也可選配SZT-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率，選配SZT-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。 詳見《四探針儀器、探頭和測試臺的特點與選型參考》點擊進入 儀器具有測量高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、測量簡便、結構緊湊、使用方便等特點。 儀器適用于半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。三、基本技術參數3.1 測量范圍 電 阻：1×10-4～2×105 Ω ，分辨率：1×10-5～1×102 Ω 電阻率：1×10-4～2×105 Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102 Ω-cm 方 阻：5×10-4～2×105 Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102 Ω/□3.2 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式決定) 直 徑：SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15～130mm，手持方式不限 SZT-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm，手持方式不限. 長(高)度：測試臺直接測試方式 H≤100mm, 手持方式不限. 測量方位: 軸向、徑向均可3.3. 4-1/2 位數字電壓表： (1)量程： 20.00mV～2000mV (2)誤差：±0.1%讀數±2 字3.4 數控恒流源 (1)量程：0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA，1A (2)誤差：±0.1%讀數±2 字3.5 四探針探頭（選配其一或加配全部） (1)碳化鎢探針：Φ0.5mm，直線探針間距1.0mm，探針壓力: 0～2kg 可調 (2)薄膜方阻探針：Φ0.7mm，直線或方形探針間距2.0mm，探針壓力: 0～0.6kg 可調3.6. 電源 輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<20W3.7.外形尺寸： 主 機 220mm（長）×245 mm（寬）×100mm（高） 凈 重：≤2.5kg.jpg)
