- 企業類型:貿易商
- 新舊程度:全新
- 原產地:美國
- 測量范圍:1-100
儀器介紹
CMI900熒光X射線鍍層測厚儀,有著非破壞,非接觸,快速無損測量,多層合金測量,高生產力,高再現性等優點的情況下進行表面鍍層厚度的測量,從質量管理到成本節約有著廣泛的應用。
適用范圍
用于電子元器件,半導體,PCB,FPC,LED支架,汽車零部件,功能性電鍍,裝飾件,連接器,端子,衛浴潔具,首飾飾品……多個行業表面鍍層厚度的測量;
測量鍍層,金屬涂層,薄膜的厚度或液體(鍍液的成分分析)組成。
主要特點
測量范圍寬,可檢測元素范圍:Ti22–U92;
可同時測定5層/15種元素/共存元素較正;
高、穩定性好;
強大的數據統計、處理功能;
NIST的標準片;
服務及支持。
主要規格 規格描述 X射線激發系統 垂直下照式X射線光學系統 空冷式微聚焦型X射線管,Be窗 標準靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等 功率:50W(4-50kV,0-1.0mA) 裝備有安全防射線光閘 二次X射線濾光片:3個位置程控交換,多種材質、多種厚度的二次濾光片任選 準直器系統 單準直器組件 多準直器自動控制組件:多可同時裝配6種規格的準直器 多種規格尺寸準直器任選: -圓形,如4、6、 8、 12、13、20 mil等 即0.102、0.152、0.203、0.305、0.330、0.508mm -矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16mil等 即0.025*0.05、0.05*0.05、0.013*0.254、0.025*0.254、0.051*0.254、0.102*0.406mm 測量斑點尺寸 在12.7mm聚焦距離時,小測量斑點尺寸為:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm<即1x2mil>準直器) 在12.7mm聚焦距離時,測量斑點尺寸為:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm<即圓形12mil>準直器) 樣品室 開槽式樣品室 樣品臺尺寸 610mm x 610mm XY軸移動范圍 標準:152.4 x 177.8mm<程控> Z軸程控移動高度 43.18mm XYZ軸控制方式 多種控制方式任選: XYZ三軸程序控制; XY軸手動控制和Z軸程序控制; XYZ三軸手動控制 樣品觀察系統 高分辨彩色CCD觀察系統,標準放大倍數為30倍。 50倍和100倍觀察系統任選。 激光自動對焦功能 可變焦距控制功能和固定焦距控制功能 計算機系統配置 IBM計算機 惠普或愛普生彩色噴墨打印機 分析應用軟件 操作系統:Windows XP中文平臺 分析軟件包:SmartLink FP軟件包 測厚范圍 可測定厚度范圍:取決于您的具體應用。 基本分析功能 采用基本參數法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣品; 樣品種類:鍍層; 可檢測元素范圍:Ti22 – U92; 可同時測定5層/15種元素/共存元素校正; 貴金屬檢測,如Au karat評價; 材料和合金元素分析; 材料鑒別和分類檢測; 多達4個樣品的光譜同時顯示和比較; 元素光譜定性分析。 調整和校正功能 系統自動調整和校正功能,自動消除系統漂移 測量自動化功能 鼠標激活測量模式:“Point and Shoot” 多點自動測量模式:隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、重復測量模式 測量位置預覽功能 激光對焦和自動對焦功能 樣品臺程控功能 設定測量點 連續多點測量 測量位置預覽(圖表顯示) 統計計算功能 平均值、標準偏差、相對標準偏差、值、小值、數據變動范圍、數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖 任選軟件:統計編輯器允許用戶自定義多媒體書 數據分組、X-bar/R圖表、直方圖 數據庫存儲功能 系統安全監測功能 Z軸保護傳感器 樣品室門開閉傳感器 |











