CH-8系列綜合性分析探針臺測試系統

可用于12英寸以內樣品測試；

操作便捷，功能其全，高效精準 ；

可滿足晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等

CINDBEST CH-8|8"~12" 綜合性分析探針臺測試系統

特點/應用

◆ 可用于12英寸以內樣品測試

◆ 同軸絲杠傳動結構，線性移動

◆ 大手柄驅動，操作舒適，無回程差設計

◆ 針座平臺快速、微調升降功能

◆ 可搭配多種類型顯微鏡

◆ 晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等

◆ 結構模塊化設計，可無縫升級

◆ 探針臺可根據客戶要求定制。

射頻探針臺，IGBT探針臺，變溫探針臺

臺體規格

型號：CH-8/CH-12

樣品臺尺寸：8英寸/12英寸

水平旋轉：可360度旋轉，可微調15度，精度0.1度，帶角度鎖死裝置

X-Y移動行程：8英寸*8英寸/12英寸*12英寸

X-Y移動精度：10微米/1微米

樣品固定：真空吸附，中心吸附孔，多圈吸附環

針座平臺：U型針座平臺，最多可放置10個探針座

平臺升降：可快速升降6mm/可微調升降25mm

背電極測試：樣品臺電學獨立懸空，4mm插孔可接背電極

外形尺寸：840mm長*600mm寬*700mm高/950mm長*700mm寬*700mm高

重量：約100千克/150千克

光學系統

顯微鏡類型：單筒顯微鏡/體式顯微鏡/金相顯微鏡

放大倍率：16X-200X/20X-4000X

移動行程：X-Y軸行程2英寸*2英寸/水平360度旋轉，Z軸行程50.8mm

光源：外置LED環形光源/同軸光源

CCD：200萬像素/500萬像素/1200萬像素

定位器

X-Y-Z移動行程：12mm*12mm*12mm

移動精度：10微米/2微米/0.7微米/0.5微米

吸附方式：磁力吸附/真空吸附

線纜：同軸線/三軸線

漏電精度：10pA/100fA/10fA

固定探針：彈簧固定/管狀固定

接頭類型：BNC/三軸/香蕉頭/鱷魚夾/接線端子

針尖直徑：0.2微米/1微米/2微米/5微米/10微米/20微米

針尖材質：鎢鋼/鈹銅

可選附件：加熱臺、顯示器、轉接頭、射頻測試配件、屏蔽箱、光學平臺、鍍金卡盤、光電測試配件、高壓測試配件、顯微鏡快速傾仰裝置、激光系統、探針卡夾具。