- 電壓:220v
- 是否進口:否
CH-8系列綜合性分析探針臺測試系統
可用于12英寸以內樣品測試;
操作便捷,功能其全,高效精準 ;
可滿足晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等
CINDBEST CH-8|8"~12" 綜合性分析探針臺測試系統

特點/應用
◆ 可用于12英寸以內樣品測試
◆ 同軸絲杠傳動結構,線性移動
◆ 大手柄驅動,操作舒適,無回程差設計
◆ 針座平臺快速、微調升降功能
◆ 可搭配多種類型顯微鏡
◆ 晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測試等
◆ 結構模塊化設計,可無縫升級
◆ 探針臺可根據客戶要求定制。
射頻探針臺,IGBT探針臺,變溫探針臺
臺體規格
型號:CH-8/CH-12
樣品臺尺寸:8英寸/12英寸
水平旋轉:可360度旋轉,可微調15度,精度0.1度,帶角度鎖死裝置
X-Y移動行程:8英寸*8英寸/12英寸*12英寸
X-Y移動精度:10微米/1微米
樣品固定:真空吸附,中心吸附孔,多圈吸附環
針座平臺:U型針座平臺,最多可放置10個探針座
平臺升降:可快速升降6mm/可微調升降25mm
背電極測試:樣品臺電學獨立懸空,4mm插孔可接背電極
外形尺寸:840mm長*600mm寬*700mm高/950mm長*700mm寬*700mm高
重量:約100千克/150千克
光學系統
顯微鏡類型:單筒顯微鏡/體式顯微鏡/金相顯微鏡
放大倍率:16X-200X/20X-4000X
移動行程:X-Y軸行程2英寸*2英寸/水平360度旋轉,Z軸行程50.8mm
光源:外置LED環形光源/同軸光源
CCD:200萬像素/500萬像素/1200萬像素
定位器

X-Y-Z移動行程:12mm*12mm*12mm
移動精度:10微米/2微米/0.7微米/0.5微米
吸附方式:磁力吸附/真空吸附
線纜:同軸線/三軸線
漏電精度:10pA/100fA/10fA
固定探針:彈簧固定/管狀固定
接頭類型:BNC/三軸/香蕉頭/鱷魚夾/接線端子
針尖直徑:0.2微米/1微米/2微米/5微米/10微米/20微米
針尖材質:鎢鋼/鈹銅
可選附件:加熱臺、顯示器、轉接頭、射頻測試配件、屏蔽箱、光學平臺、鍍金卡盤、光電測試配件、高壓測試配件、顯微鏡快速傾仰裝置、激光系統、探針卡夾具。













