- 企業類型：貿易商
- 新舊程度：全新
- 原產地：美國
Filmetrics F50 光學膜厚測量儀
選擇 Filmetrics 的優勢
? 嵌入式在線診斷
? 離線分析軟件
? 精細的歷史數據功能，幫助用戶有效的存儲，重現與繪制測量結果
現場演示/支持
點幾下鼠標就可以在網絡上在線看到現場演示！請聯系我們，我們的應用工程師會在電腦上為你演示薄膜測量是多么容易
自動化薄膜厚度繪圖系統
依靠 F50 先進的光譜測量系統，可以很簡單快速地獲得直徑 450 毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用 r-θ 極坐標移動平臺，可以非常快速的定位所需測試的點并測試厚度，測試非常快速，大約每秒能測試兩點。用戶可以自己繪制需要的點位地圖。 F50 系統配置高使用壽命長的移動平臺，確保
能夠做成千上萬次測量。系統中預設了許多極坐標形、方形和線性的圖形模式，也可以編輯自己需要的測試點。只需掌握基本電腦技術便可在幾分鐘內建立自己需要的圖形模式。
可測樣品膜層基本上所有光滑的。非金屬的薄膜都可以測量。可測樣品包括：
氧化硅 氮化硅 類金剛石 DLC
光刻膠 聚合物 聚亞酰胺
多晶硅 非晶硅 硅
相關應用
半導體制造 液晶顯示器
? 光刻膠 ? 盒厚
? 氧化物 ? 聚酰亞胺
? 氮化物 ? ITO
光學鍍層 生物醫學
? 硬涂層 ? 聚對二甲苯
? 抗反射層 ? 生物膜
? 濾光器 ? 消化纖維
美國 Filmetrics F50 光學膜厚測量儀美國 Filmetrics F50 光學膜厚測量儀美國 Filmetrics F50 光學膜厚測量儀美國 Filmetrics F50 光學膜厚測量儀美國 Filmetrics F50 光學膜厚測量儀美國 Filmetrics F50 光學膜厚測量儀
