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產品說明、技術參數及配置
產品名稱：珠寶玉石檢測儀，又稱紫外可見近紅外光譜檢測儀
型號：UVN5000
UVN50000珠寶玉石檢測儀是一套基于測量全反射光波波長的光譜分析儀，其波長范圍為紫外、可見光、近紅外，能有效檢測數百種珠寶的光譜反射特征曲線。
測量對象：鉆石：含天然鉆石、CVD, HTHP, 輻照處理等；玉石類：翡翠等；有色寶石類：藍寶石、紅寶石、綠松石、綠柱石等；有機寶石類：金珍珠、黑珍珠、紅珊瑚等
技術參數：
檢測范圍：200-1100nm
信噪比（全信號）：450：1
單次測量時間：2us（帶電子快門）
分辨率：0.06-20um可選
雜散光：﹤0.3%
靈敏度：460,000計數/uW
探測器：Hamamtsu2048像元二維陣列，14um*500um背照式CCD
光源：全信號優化設計的平衡式光源，可調鎢燈及氘燈組合，在全信號區域內，有較好的線性分布，大大提高全光譜范圍的信號質量，測試結果更準確和穩定
樣品冷卻：侵入式，低溫液氮樣品池（-196℃），在低溫下，有效降低了樣品分子熱振動，使常溫條件下無法測定的弱吸收峰清晰再現
吸收曲線測試及數字光譜圖顯示：樣品形狀不影響測試結果，光譜測試完成后，除能正常顯示特定的吸收峰外，軟件還提供了特殊的數字光源圖，便于用戶與分光鏡的圖作對比
穩定性：>99%
測量采樣方式：積分球式和反射式
數據庫：標準數據庫及數據庫，可升級為云服務（實時更新）
樣品腔尺寸：255x125x70mm
信號接口：USB2.0
產品尺寸：560*430*280mm
產品重量：19.5kg
電源及功率：220V-50HZ /250W
