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快光聲顯微成像系統(tǒng)
快光聲顯微成像系統(tǒng)
  • 快光聲顯微成像系統(tǒng)
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快光聲顯微成像系統(tǒng)

產(chǎn)品價(jià)格:
電議
產(chǎn)品型號(hào):
JAX-M1
產(chǎn)品品牌:
法國(guó)Neta
供應(yīng)商等級(jí):
企業(yè)未認(rèn)證
經(jīng)營(yíng)模式:
代理商
企業(yè)名稱(chēng):
北京培科創(chuàng)新技術(shù)有限公司
所屬地區(qū):
北京市
發(fā)布時(shí)間:
2018/9/6 14:00:42

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曹青山先生(聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)說(shuō)明是在維庫(kù)儀器儀表網(wǎng)看到的,謝謝)

企業(yè)檔案

北京培科創(chuàng)新技術(shù)有限公司

企業(yè)未認(rèn)證營(yíng)業(yè)執(zhí)照已上傳

經(jīng)營(yíng)模式:代理商

所在地:北京市

主營(yíng)產(chǎn)品:X射線衍射儀,掃描電子顯微鏡

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聲波(聲波)已經(jīng)作為一種常見(jiàn)檢測(cè)手段,在工業(yè)或領(lǐng)域的宏觀范圍內(nèi)的測(cè)試得到廣泛應(yīng)用。另一方面,我們每天使用的電子器件裝置越來(lái)越集成和復(fù)雜,尺寸越來(lái)越小。傳統(tǒng)的表征測(cè)試手段越來(lái)越具有局限性,在納米尺度范圍內(nèi)需要新的測(cè)量裝置進(jìn)行材料的表征測(cè)試;

  JAX采用新一代的泵浦探測(cè)pump-probe技術(shù)即異步光學(xué)采樣技術(shù)(ASynchronous OPtical Sampling Imagery System,ASOPS). 此技術(shù)源于光學(xué)外差法采樣技術(shù),是波爾多大學(xué)和法國(guó)CNRS共同合作開(kāi)發(fā)的技術(shù),Neta的產(chǎn)品來(lái)源于此項(xiàng)技術(shù)。這種授權(quán)的技術(shù)可在在納米尺度上表征材料,而不接觸破壞樣品。Neta使用這項(xiàng)技術(shù),采用新的工業(yè)設(shè)計(jì),具有的性能,高性和可維護(hù)性。我們的研發(fā)團(tuán)隊(duì)進(jìn)行了的工業(yè)化設(shè)計(jì),使得Neta成為一種易于使用和即插即用的產(chǎn)品,可以像普通顯微鏡一樣,非人士即可操作。

產(chǎn)品概述和特點(diǎn)

  • 市場(chǎng)上的即時(shí)可用ASOPS 系統(tǒng)

  • 一鍵采集測(cè)量;

  • 具有Mapping成像能力;

  • 非破壞/無(wú)接觸探測(cè)

  • 高分辨率和高

  • 基于新一代脈沖光纖激光器

  

  JAX 系統(tǒng)采用單路或雙路的泵浦/探測(cè)模式的器,重復(fù)頻域在數(shù)百兆赫茲(如下圖)。它被稱(chēng)為外差法技術(shù),具有高穩(wěn)定性和高等優(yōu)點(diǎn),允許用戶一鍵采集一個(gè)測(cè)量點(diǎn)的參數(shù),比傳統(tǒng)技術(shù)快10 000到100 000倍。頻移允許通過(guò)一個(gè)雙光源即時(shí)掃描并在數(shù)個(gè)毫秒內(nèi)獲得樣品信息,探測(cè)時(shí)間分辨率小于1ps,這就是異步光學(xué)采樣技術(shù)。一旦樣品上單點(diǎn)準(zhǔn)確測(cè)量結(jié)束,用戶可以移動(dòng)樣品并開(kāi)始掃描整個(gè)表面,以便創(chuàng)建所研究參數(shù)的Mapping成像。

  

  

                                           圖1ASOPS 測(cè)量示意圖

  

  JAX-M1進(jìn)行皮秒聲波的產(chǎn)生和檢測(cè)

  JAX-M1一般使用反射模式,基于正置結(jié)構(gòu),近紅外激勵(lì)pump模式。在這種模式下,由近紅外正面輻照樣品上表面,樣品內(nèi)產(chǎn)生聲波,并用另外一束進(jìn)行聲波檢測(cè)。在圖2的示例中,樣品是硅襯底上的250納米的鎢薄膜。被激發(fā)的聲波穿透鎢薄膜,當(dāng)?shù)竭_(dá)鎢和硅的界面時(shí),部分聲波被反射回到表面,并被探測(cè)激光作為回聲檢測(cè)到。聲波再次被鎢和空氣界面反射,并在結(jié)構(gòu)層中傳輸,這樣產(chǎn)生多次的回聲信號(hào)。

  自動(dòng)信號(hào)處理

  特定開(kāi)發(fā)的程序用來(lái)提取回聲信號(hào)之間的飛行時(shí)間F和衰減a;從內(nèi)部接觸界面或其它亞表面非均勻聲學(xué)區(qū)域返回到表面的應(yīng)變脈沖被檢測(cè)為一系列回波信號(hào)。例如,通過(guò)薄膜來(lái)回傳播的應(yīng)變脈沖產(chǎn)生一系列衰減的回波,從中可以得到一個(gè)聲波衰減或聲波色散的回波,通過(guò)這些信號(hào)特征進(jìn)而得到薄膜厚度。固體表面附近的折射率和消光系數(shù)受到返回的應(yīng)變脈沖的擾動(dòng),從而導(dǎo)致光學(xué)反射率或的變化(探測(cè)光的光學(xué)吸收深度內(nèi))。測(cè)量的時(shí)間回波形狀是由探測(cè)光吸收譜形狀和應(yīng)變脈沖空間輪廓的空間積分決定的。

  物理屬性提取及成像

  通過(guò)回波之間飛行的時(shí)間可以推斷出鎢的厚度,而回聲的衰減等信息告訴我們涂層黏附的質(zhì)量。ASOPS快速測(cè)試能力使得在合理的測(cè)試時(shí)間內(nèi)對(duì)器件的成像測(cè)試如今成為可能,ASOPS技術(shù)代替了傳統(tǒng)泵浦探測(cè)中的分散多點(diǎn)測(cè)試和估算。圖4這里的效果,是以50微米的空間分辨率進(jìn)行了1000個(gè)點(diǎn)的測(cè)試。

  

 圖 4左側(cè):鎢層的薄膜厚度(納米);右側(cè):黏附質(zhì)量

  1. NETA JAX應(yīng)用:

  納米薄膜和納米器件的檢測(cè)

  大量工業(yè)領(lǐng)域采用檢測(cè)的手段進(jìn)行產(chǎn)品品質(zhì)鑒定,我們的產(chǎn)品適合樣品微納結(jié)構(gòu)的、非接觸式測(cè)量,獲得微納樣品的結(jié)構(gòu)性能信息。這些檢測(cè)對(duì)于半導(dǎo)體行業(yè),光學(xué)制造或是涂層生產(chǎn)等領(lǐng)域是不可少的過(guò)程,很上影響產(chǎn)品的產(chǎn)量和品質(zhì)。例如對(duì)于兩層金屬薄膜樣品的膜厚度測(cè)量或者黏附質(zhì)量檢測(cè),我們的產(chǎn)品能夠快速,準(zhǔn)確的獲得缺陷的詳細(xì)信息;快速M(fèi)apping成像獲得缺陷的定量信息,能夠幫助進(jìn)行產(chǎn)品質(zhì)量控制。

  生物(切片)成像

  生物切片成像表征很容易理解,簡(jiǎn)而言之,我們能夠在納米尺度范圍內(nèi),對(duì)于細(xì)胞進(jìn)行聲波成像。這種應(yīng)用于生物的多參數(shù)物理量非接觸成像技術(shù)有助于細(xì)胞結(jié)構(gòu)學(xué)的認(rèn)知,在生物多樣性過(guò)程中以及在退化性或癥的研究中起著的作用。Neta 技術(shù),為這一領(lǐng)域的研究提供了無(wú)限可能性。

  材料領(lǐng)域

  時(shí)間分辨光譜學(xué)是研究快瞬態(tài)現(xiàn)象、材料間的相移和薄膜應(yīng)力松弛的各種相關(guān)技術(shù)。在實(shí)現(xiàn)納米熱學(xué)或皮秒聲學(xué)研究方法中,我們的產(chǎn)品在納米尺度上對(duì)這種現(xiàn)象的成像提供了可能性。這些現(xiàn)象的研究對(duì)更好地理解物質(zhì)的結(jié)構(gòu)以及如何改進(jìn)物質(zhì)的結(jié)構(gòu)起著重要的作用。


技術(shù)參數(shù)

  1. JAX詳細(xì)規(guī)格和性能

  主系統(tǒng)規(guī)格

  JAX

  單波長(zhǎng)

  雙波長(zhǎng)

  光譜范圍

  UV / VIS / IR

  UV & VIS / VIS & IR

  橫向空間分辨率

  250 nm

  時(shí)間分辨率

  250 fs

  時(shí)間測(cè)量窗口

  23 ns

  采樣點(diǎn)激光功率

  500 mW

  激光重復(fù)率

  44 MHz

  掃描時(shí)長(zhǎng)

  2 ms per acquisition

  重復(fù)率偏移調(diào)諧

  0.1 ms per acquisition

  成像尺寸

  <= 50 x 50 mm2 或定制到450 mm 半徑

  

  HEAD                               ONTROLLER

  尺寸

  852 x 774 x 630 mm

  20U單機(jī)架

  重量

  80 kg

  90 kg

  配置

  up to 24

  -

  預(yù)熱時(shí)間和校準(zhǔn)時(shí)間

  少于5 分鐘

  -

  

  樣品臺(tái)規(guī)格

  類(lèi)型

  數(shù)值

  尺寸

  150 x 100mm

  機(jī)械接口

  M6 , 25 x 25mm

  載物臺(tái)

  行程

  25 x 25 mm

  40x50 mm

  速度

  <=1 mm/s

  <=5 mm/s

  步進(jìn)

  低于50 nm

  低于100 nm

  JAX 多提供 24 個(gè)不同的配置:

  • 2 可能的波長(zhǎng)在雙波長(zhǎng)系統(tǒng)中,

  • 4 /bottom 配置的泵浦和探針激光器 (/, /bottom, bottom/, bottom/bottom)

  • 3 研究方法:泵浦和探針探測(cè)同一點(diǎn),探針掃描小的泵浦激光器周?chē)鷧^(qū)域或者模式

  成像配置

  用戶可以在軟件內(nèi)的屏幕上直接顯示樣品的實(shí)時(shí)顯微光學(xué)視圖。相機(jī)可在標(biāo)準(zhǔn)的俯視圖內(nèi)觀察研究區(qū)域,并幫助粗對(duì)準(zhǔn)的泵浦激光器探測(cè)光束。樣品架配備有6位物鏡轉(zhuǎn)輪,以便預(yù)先安裝多達(dá)6種不同的顯微鏡物鏡頭,而無(wú)需進(jìn)一步校準(zhǔn)。



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