X射線是電磁波譜中的某特定波長范圍內（0.005～10nm）的電磁波。一個穩定的原子結構由原子核及核外電子組成，其核外電子都以各自特有的能量在各自的固定軌道上運行。當X射線作為高能粒子束轟擊介質時，原子的內層電子（如K層）在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛釋放出來，電子的逐放會導致該電子殼層出現相應電子空位。這時處于高能量電子殼層的電子（如L層）會躍遷到該低能量電子殼層來填補相應的電子空位。由于不同電子殼層之間存在著能量差距，這些能量上的差以二次X射線的形式釋放出來。    

1、edx光譜分析儀技術原理

　　X熒光光譜儀（XRF）由激發源（X射線管）和探測系統構成。X射線管產生入射X射線（X射線），激發被測樣品。受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后，儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量。

　　元素的原子受到高能輻射激發而引起內層電子的躍遷，同時發射出具有一定特殊性波長的X射線，根據莫斯萊定律，熒光X射線的波長λ與元素的原子序數Z有關，其數學關系如下：

λ=K(Z? s) ?2

式中K和S是常數。

　而根據量子理論，X射線可以看成由一種量子或光子組成的粒子流，每個光具有的能量為：

E=hν=h C/λ

式中，E為X射線光子的能量，單位為keV；h為普朗克常數；ν為光波的頻率；C為光速。

因此,只要測出熒光X射線的波長或者能量,就可以知道元素的種類，這就是熒光X射線定性分析的基礎。此外,熒光X射線的強度與相應元素的含量有一定的關系，據此，可以進行元素定量分析。

2、X熒光光譜儀主要用途

　　X熒光光譜儀根據各元素的特征X射線的強度，也可以獲得各元素的含量信息。

近年來，X熒光光譜分析在各行業應用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應用于冶金、地質、有色、建材、商檢、環保、衛生等各個領域，特別是在RoHS檢測領域應用得*多也*廣泛。 大多數分析元素均可用其進行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Na到U。并且具有分析速度快、測量范圍寬、干擾小的特點。

3、X熒光光譜儀的優點

　　a) 分析速度高。測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。

　　b) X射線熒光光譜跟樣品的化學結合狀態無關，而且跟固體、粉末、液體及晶質、非晶質等物質的狀態也基本上沒有關系。（氣體密封在容器內也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現象。特別是在超軟X射線范圍內，這種效應更為顯著。波長變化用于化學位的測定 。

　　c) 非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態的改變，也不會出現試樣飛散現象。同一試樣可反復多次測量，結果重現性好。

　　d) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析。

e) 分析精密度高。

f) 制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。

3、EDX系列熒光光譜儀在地礦行業的應用

礦產勘查是礦業投資成功率***、風險、回報*不確定的階段，在礦產勘查階段，投資蘊藏著極大的風險。隨著我國礦產資源勘查和礦業工作發展戰略從過去的外延式發展為主轉而側重于內涵式發展和戰略性轉變，政府開始重視對礦產資源勘查開發的有效投入，促進礦產資源投資主體多元化，在減少財政投資經費的同時鼓勵商業性礦產勘查與開發。

我國商業性礦產地質勘查體制的框架已初步形成，礦業權制度逐步完善，市場主體正在形成，商業性礦產地質勘查活動已經開始，這大大的加強了各大礦業公司對礦產的勘探和投資力度，但對于礦業公司來說，勘查的分析工具并沒有國家各地質勘查局那么全面，這樣就制約了各大公司的發展，而且如果目前還采用傳統的化學滴定法來對樣品進行測試的話，其效率太低，人為誤差大。而天瑞儀器股份有限公司制造的各種分析儀器能幫助各種勘探單位對礦產進行勘探，提高效率，***分析，大大縮短勘探時間，加快我國礦產地質勘查事業的發展。 

天瑞儀器秉承X熒光光譜儀20多年研發經驗，EDX4500H再次使檢測巖石中元素含量向具體化、快速化方向的邁進。高效真空形成條件及高靈敏半導體探測器保障對礦石中的元素具有超低的檢出限；更寬的元素檢出范圍滿足多種元素的同時檢測需求，適用面更廣；同時引入了目前進的4096道數字多道技術，采用進口超薄鈹窗高激發效率的X射線管，使儀器計數率更高，穩定性更好；優化了光路結構、軟硬件可靠性，真空腔體、使之性能更好、更便攜；更全面的可靠性設計，獨特的抗震性設計，及獨立散熱的風道，使得該儀器通過了江蘇省計量測試研究所高低溫、高低頻電動振動、及濕熱等多種環境下的使用；使之可在現場檢測以及各類地質勘察多元素檢測和分析、礦渣精煉分析中充分發揮作用。

儀器測試巖屑的X熒光光譜圖

Mg元素的測試曲線和數據

Si元素的測試曲線（相關性在90%以上）

K元素的測試曲線（相關性在90%以上）

儀器分析：

譜圖如下:

4、 X熒光分析儀EDX4500H產品優勢

EDX4500H型X熒光分析儀及其系列產品，測試和準確性很高的分析測試設備?，F在將其產品做以下簡要闡述：

天瑞儀器公司是生產高性能X熒光光譜儀(XRF)的公司，自1992年創辦公司以來，一直從事X射線熒光光譜儀的研發制造，2011年推出的高性能臺式X熒光合金分析儀EDX4500H,融匯的成分分析技術，配備合金測試效果的智能真空系統，利用低能光管配合真空測試，可以有效的降低干擾，提高輕元素分辨率,大大提高測試樣品中微量的Al、Si、P等輕元素的檢測效果。

EDX4500H光譜儀是天瑞儀器公司為地礦行業開發的儀器類型。具有測試高、測試速度快、測試簡單等特點。

性能特點
高效超薄窗X光管，指標達到水平
針對合金的測試而開發的專用配件
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
低能X射線激發待測元素，對Pb、S等微含量元素激發效果好
智能抽真空系統，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
自動穩譜裝置保證了儀器工作的一致性；
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
多參數線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制；
內置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數（管壓、管流、真空度）一目了然
標準配置：
合金測試高效超薄窗X光管
超薄窗大面積的原裝進口SDD探測器
光路增強系統
高信噪比電子線路單元
內置高清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩譜裝置
三重安全保護模式
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼架結構，力度可靠的保證
90mm×70mm的液晶屏
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
樣品腔體積：Φ320mm×100mm
重量：65Kg
技術指標：
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍：1 ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
同時分析元素：性可測幾十種元素
測量時間：60秒-200秒
能量分辨率為：（140±5）eV
管壓：5KV-50KV
管流：50uA-1000uA