X射線ROHS分析儀的產(chǎn)品介紹,天瑞X射線ROHS分析儀大功率X射線光管和高分貝探測器技術(shù)。提供產(chǎn)品詳細(xì)配置信息和報(bào)價(jià)。天瑞X射線ROHS分析儀的下照式設(shè)計(jì)可滿足各種形狀樣品的測試需求。

準(zhǔn)直器和濾光片:多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換,滿足各種測試方式的應(yīng)用移動(dòng)平臺。精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺,方便定位測試點(diǎn)高分辨率探測器:提高分析的準(zhǔn)確性新一代的高壓電源和X光管:性能穩(wěn)定可靠,高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測試效率,元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)
天瑞ROHS分析測試儀器檢出限可達(dá)1ppm,分析含量一般為1ppm到99.99%,任意多個(gè)可選擇的分析和識別模型。相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型,多變量非線性回歸程序,溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃
電源:交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。移動(dòng)樣品平臺,SDD探測器,數(shù)字多道分析系統(tǒng),高低壓電源。大功率X光管,計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
《電子信息產(chǎn)品中有毒有害物質(zhì)的檢測方法》(以下簡稱《檢測方法》,標(biāo)準(zhǔn)號為 SJ/T 11365-2006)對RoHS要求中有害元素測試方法給予了限定。其中X射線熒光光譜法(XRF)作為一種*快捷、方便的方法被制定為快速篩選方法。使用X射線熒光光譜法(XRF)可對鉛(Pb)、汞(Hg)、鎘(Cd)、鉻(Cr)以及溴(Br)五種元素的相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行測試。可是基于 XRF的原理所獲得的結(jié)果只是元素的含量,也就是說如果這種篩選測試得到鉻(Cr)或溴(Br)的含量,即使他們超標(biāo)也并不能代表有害物質(zhì)(Cr VI)與阻燃劑PBB和PBDE)超標(biāo),這個(gè)測試結(jié)果(指含有)只是含有相應(yīng)有害物質(zhì)的必要條件而并非充分條件。這也就是限值表中沒有這兩種有害物質(zhì)不合格的限值判斷依據(jù)的原因。



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